精品文档---下载后可任意编辑集成电路多故障测试生成算法及可测性设计的讨论的开题报告一、讨论背景随着集成电路设计的复杂化和制造工艺的提高,芯片的可靠性要求越来越高。然而,不可避开地存在一些缺陷和故障,这些...
时间:2025-02-17 10:39栏目:行业资料