运放稳定性连载11： 电容性负载稳定性：RISO、高增益及 CF、噪声增益（2） Tin a SPICE 仿真证实了我们的 VOUT／VIN 及 VOA／VIN 一阶分析结果（如图 6.21 所示）。 图 6.21：Tin a SPICE － RISO 及 CL 的 VOUT／VIN 曲线图 我们通过进行瞬态分...

时间:2024-12-12 18:29栏目:行业资料