运放稳定性连载11: 电容性负载稳定性:RISO、高增益及 CF、噪声增益(2) Tin a SPICE 仿真证实了我们的 VOUT/VIN 及 VOA/VIN 一阶分析结果(如图 6
21 所示)
21:Tin a SPICE - RISO 及 CL 的 VOUT/VIN 曲线图 我们通过进行瞬态分析完成最终的稳定性全面检测,其结果与图 6
22 中的测算值一致
通过 VOA 曲线、反馈点,若输出为正则瞬态分析将测算出环路增益相位裕度约为 60 度,若为负值则测算大于 45 度(参见本系列第 4 部分)
SPICE 模型与实际的 IC 特性一致,我们可以看到负输出级与正输出级略有不同
然而,整体稳定性是可靠的
22:Tina SPICE - RISO 及 CL 的 VOUT/VIN 瞬态分析 高增益及CF 补偿 用于稳定可驱动容性负载的运算放大器的第二种方法是,采用高增益与反馈电容器CF
该拓扑如图6
为了更好地理解该方法的工作原理,我们将绘制带有第二个极点(由 RO 及CL 形成)的“Aol修正”曲线图
在 1/β图中,我们将在相对应的频率位置增加一个极点,该频率位置将导致 1/β 曲线与闭合速率为 20dB/decade 的Aol 修正曲线相交
23:高增益及 CF 补偿 用一阶分析在Aol 修正曲线中绘制第二个极点fp01(如图6
24 所示)
我们通过添加 CF 在1/β图中增加了一个极点
请注意如何选择 fp1 才能确保 1/β曲线与 Aol 修正曲线在闭合速率为 20dB/decade时相交
使用电容器 CF 作为运算放大器的反馈元件,1/β的最小值经检查为 1 (0dB),原因是 CF 对高频短路且 VOUT 直接反馈到运算放大器的负输入端
通过一阶分析,我们可以测算出稳定电路,而因为直接反馈至 CL 故 VOUT/V