精品文档---下载后可任意编辑VLSI 高层次综合中可测性和低功耗设计方法讨论的开题报告1.讨论背景和意义：随着半导体加工工艺和设计技术的不断进展，集成电路的规模和复杂性越来越高，这导致了测试和低功耗设计成为了 VLSI...
时间:2025-02-11 08:40栏目:行业资料
