本系列一共四章，下面是第一局部，主要讨论芯片开发和生产过程中的 IC 测试根本原理， 容覆盖了根本的测试原理，影响测试决策的根本因素以与 IC 测试中的常用术语。 第一章 数字集成电路测试的根本原理 器件测试的主要目...

时间:2025-04-14 14:34栏目:行业资料

IC 测试基本原理与 ATE 测试向量生成来源：互联网集成电路测试（IC 测试）主要的目的是将合格的芯片与不合格的芯片区分开，保证产品的质量与可靠性。随着集成电路的飞速发展，其规模越来越大，对电路的质量与可靠性要求...

时间:2025-01-17 03:52栏目:行业资料