IC测试基本原理与ATE测试向量生成VIP专享

IC 测试基本原理与 ATE 测试向量生成来源：互联网集成电路测试（IC 测试）主要的目的是将合格的芯片与不合格的芯片区分开，保证产品的质量与可靠性。随着集成电路的飞速发展，其规模越来越大，对电路的质量与可靠性要求进一步提高，集成电路的测试方法也变得越来越困难。因此，研究和发展IC 测试，有着重要的意义。而测试向量作为 IC 测试中的重要部分，研究其生成方法也日渐重要。1 IC 测试1.1 IC 测试原理IC 测试是指依据被测器件（DUT）特点和功能，给 DUT 提供测试激励（X），通过测量DUT 输出响应（Y）与期望输出做比较，从而判断DUT 是否符合格。图 1 所示为 IC 测试的基本原理模型。根据器件类型，IC 测试可以分为数字电路测试、模拟电路测试和混合电路测试。数字电路测试是 IC 测试的基础，除少数纯模拟 IC 如运算放大器、电压比较器、模拟开关等之外，现代电子系统中使用的大部分 IC 都包含有数字信号。图 1 IC 测试基本原理模型数字 IC 测试一般有直流测试、交流测试和功能测试。1.2 功能测试功能测试用于验证 IC 是否能完成设计所预期的工作或功能。功能测试是数字电路测试的根本，它模拟 IC 的实际工作状态，输入一系列有序或随机组合的测试图形，以电路规定的速率作用于被测器件，再在电路输出端检测输出信号是否与预期图形数据相符，以此判别电路功能是否正常。其关注的重点是图形产生的速率、边沿定时控制、输入/输出控制及屏蔽选择等。功能测试分静态功能测试和动态功能测试。静态功能测试一般是按真值表的方法，发现固定型（Stuckat）故障。动态功能测试则以接近电路工作频率的速度进行测试，其目的是在接近或高于器件实际工作频率的情况下，验证器件的功能和性能。功能测试一般在 ATE（Automatic Test Equipment）上进行，ATE 测试可以根据器件在设计阶段的模拟仿真波形，提供具有复杂时序的测试激励，并对器件的输出进行实时的采样、比较和判断。1.3 交流参数测试交流（AC）参数测试是以时间为单位验证与时间相关的参数，实际上是对电路工作时的时间关系进行测量，测量诸如工作频率、输入信号输出信号随时间的变化关系等。常见的测量参数有上升和下降时间、传输延迟、建立和保持时间以及存储时间等。交流参数最关注的是最大测试速率和重复性能，然后为准确度。1.4 直流参数测试直流测试是基于欧姆定律的，用来确定器件参数的稳态测试方法。它是以电压或电流的形式验证电气参数。直...