精品文档---下载后可任意编辑18.1 引言固体表面分析业已进展为一种常用的仪器分析方法，特别是对于固体材料的分析和元素化学价态分析。目前常用的表面成分分析方法有：X 射线光电子能谱（XPS）, 俄歇电子能谱(AES)，静态二...

时间:2025-02-11 08:57栏目:行业资料

Page 1 第 18 章 X 射线光电子能谱分析 18.1 引言 固体表面分析业已发展为一种常用的仪器分析方法，特别是对于固体材料的分析和元素化学价态分析。目前常用的表面成分分析方法有：X 射线光电子能谱（XPS）, 俄歇电子能谱(AES)，...

时间:2024-12-17 10:16栏目:行业资料