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X射线衍射电子能谱分析

精品文档---下载后可任意编辑18.1 引言固体表面分析业已进展为一种常用的仪器分析方法,特别是对于固体材料的分析和元素化学价态分析。目前常用的表面成分分析方法有:X 射线电子能谱XPS), 俄歇电子能谱(AES),静态二...

时间:2025-02-11 08:57栏目:行业资料

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