精品文档---下载后可任意编辑固体表面分析业已进展为一种常用的仪器分析方法，特别是对于固体材料的分析和元素化学价态分析。目前常用的表面成分分析方法有：X 射线光电子能谱（XPS）, 俄歇电子能谱(AES)，静态二次离子质...
时间:2025-02-11 08:54栏目:行业资料
