物质结构得表征方法一、按表征任务分类材料结构得表征就其任务来说主要有三个,即成分分析、结构测定与形貌观察。1、1 化学成分分析材料得化学成分分析除了传统得化学分析技术外,还包括质谱、紫外、可见光、红外光谱分析,气、液相色谱,核磁共振,电子自旋共振、X 射线荧光光谱、俄歇与 X 射线光电子谱、二次离子质谱,电子探针、原子探针(与场、离子显微镜联用)、激光探针等。在这些成分分析方法中有一些已经有很长得历史,并且已经成为普及得常规得分析乎段。如质谱已就是鉴定未知有机化合物得基本手段之一,其重要贡献就是能够提供该化合物得分子量与元素组成得信息。色谱中特别就是裂解气相色谱( PGC)能较好显示高分子类材料得组成特征,它与质谱、红外光谱、薄层色谱,凝胶色谱等得联用,大大地扩展了其使用范围。红外光谱在高分子材料得表征上有着特别重要地位。红外光谱测试不仅方法简单,而且也由于积累了大量得已知化合物得红外谱图及各种基团得特征频率等数据资料而使测试结果得解析更为方便。核磁共振谱虽然常常就是作为红外光谱得补充,但其对聚合物得构型及构象得分析,对于立构异构体得鉴定,对于共聚物得组成定性、定量及序列结构测定有着独特得长处。许多信息就是其她方法难以提供得。需要特别提及得就是,近年来由于对材料得表面优化处理技术得进展,对确定表面层结构与成分得测试需求迫切。一种以 X 射线光电子能谱、俄歇电子能谱、低能离子散射谱仪为代表得分析系统得使用日益重要。其中 X 射线光电子能谱(XPS)也称为化学分析光电子能谱(ESCA),就是用单色得软 X 射线轰击样品导致电子得逸出,通过测定逸出得光电子可以无标样直接确定元素及元素含量。对于固体样品,XPS 可以探测 2~20 个原子层深度得范围。目前已成为从生物材料、高分子材料到金属材料得宽阔范围内进行表向分析得不可缺少得工具之一:俄歇电子能谱(AES)就是用一束汇聚电子束,照射固体后在表面附近产生了二次电子。由于俄歇电子在样品浅层表面逸出过程中没有能量得损耗,因此从特征能量可以确定样品元素成分,同时能确定样品表面得化学性质。由于电子束得高分辨率,故可以进行二维区域得微观分析。二次离子质谱(SIMS)就是采纳细离子束轰击固体样品,它们有足够能量使样品产生离子化得原子或原子团,这些离子化物质就称为二次离子。二次离子被加速后在质谱仪中根据荷质比不同分类,从而提供包含样品表面各种官能团与各种化合物得离子质谱。二次离子质谱又分为静态与动态二次...
