软件的建立定量分析方法工作曲线的操作说明VIP免费

建立定量分析方法工作曲线的操作说明软件版本：SpectraEDXV2.12007年11月28日1、双击SpectraEDXLauncher。2、如果没有登录过，会弹出如图的窗口。3、点击OK。1、输入用户名和密码：不同的用户级别有不同的用户名和密码。最高级别的用户是“管理员Administrators”。用户名：admin密码：pass2、点击Tools中的S2Browser可以搜索仪器，建立计算机与仪器的连接。1、点击Browse搜索仪器。2、选中仪器，将仪器内部的硬盘映射为外部计算机的盘，如Y盘。映射时要求输入：用户名：s2密码：s23、点击Connect连接。下面介绍建立定量分析方法，即建立工作曲线的操作步骤。点击Launcher上的Application，建立工作曲线。1、屏幕的左边是建立工作曲线的向导右边是具体的要求。2、建立工作曲线，主要有4个步骤：A、定义分析方法；包括分析方法的名称，要分析的成分，已有的标准样品的名称及含量。B、定义制样方法C、测量；包括三个部分：定义测量方法（定义测量的Regions，及每个Region的测量条件和测量时间。）；根据已定义的测量条件和测量时间测量每个标准样品，将信号强度采集下来。选择每条谱线的条件（信号范围）；D、绘制工作曲线定义分析方法1、定义材料组（Materialgroups）的名称，相当于定义一个目录。2、定义材料（Materials）的名称，即分析方法的名称。注意：新建的分析方法，不能建在下列材料组内：Addiitve，Contamination，Foils。定义显示的栏目新建删除ElementsOriented1、定义要分析的成分，所定义的成分以元素或氧化物存在。注意：1、X射线荧光光谱只能分析元素的含量，不能确定是以元素还是以氧化物存在。2、定义元素或氧化物，是以元素或氧化物来计。其目的有2个：A、输出格式的需要；B、将样品中主量成分定义清楚，有助于在绘制工作曲线时采用理论α系数校正元素间的影响。CompoundOriented1、定义以其它形式存在的特殊化合物。可以对成分排序StandardMaterials定义标准样品1、定义标准样品的名称。2、输入标准样品中各成分的含量。3、定义所输入含量的单位、小数位数。4、有些不测的成分可以定义为余量如钢铁样品中的Fe，铝合金中的Al，水溶液中的H2O。1、输入标准样品的名称2、输入标准样品中各成分的含量3、打右键，定义所输入含量的单位、小数位数，或定义为余量注意：输入含量时，请用Tab键。Preparation定义制样方法痕量，对于含量不知道的并且含量很小的，可以单定义为痕量标记为不准确的含量，如某些成分的含量已知但结果不确定。定义单位定义小数位数定义为余量1、选择已有的制样方法名称，或定义新的制样方法名称1、选择已有的制样方法名称，或定义新的制样方法名称。（每个分析方法都必须有与之相对应的制样方法名称）。2、选择制样方法。注意：如果选择已有的制样方法名称，不能对该制样方法的参数进行修改。1、选择添加物（Addition）。如：压片制样时的粘结剂；熔融制样的熔剂；溶液的溶剂，如水。注意：定义添加物的目的是将样片中的成分定义清楚，不光样品中的成分，也包括加入的添加物，因为2、选择制样方法：Solid：固体原样。FusedBead：熔融制样。PressedPellet：压片制样。LoosePowder：粉末。Liquid：液体（原液）。Solution：溶液2、定义制样时样品和添加物的量。添加物的成分也会影响测量元素的结果。2、定义制样时样品和添加物的量。注：几种常用的添加物：Lithiumtetraborate：四硼酸锂Lithiummetaborate：偏硼酸锂StearicAcid：硬脂酸1、点击“Next”，会弹出一个窗口要求保存制样方法。2、保存完毕，会弹出另外一个警告窗口。1、选择添加物（Addition）当前的制样方法已被修改，采用这个制样方法的标准样片也可以被自动更新。警告：更新后，标准样片的一些特定参数会被破坏。你是否决定更新标准样片？Size样片尺寸1、定义样片的尺寸，目的是定义样片的厚度，如果样片是足够厚的可以随意定义。如果样片的厚度没达到无限厚，要仔细定义样片定义样片的直径和重量。软件会自动计算样片的厚度，校正样片不够厚所带来的影响。的厚度。Contamination污染1、定义样品在制样过程中带入的污染。注意：在绝大多数情况下，可以跳过这项。Foil膜1、定义液体...