纳米材料的表征方法VIP免费

纳米材料的表征及其催化效果评价方式 纳米材料的表征主要目的是确定纳米材料的一些物理化学特性如形貌、尺寸、粒径、等电点、化学组成、晶型结构、禁带宽度和吸光特性等。 纳米材料催化效果评价方式主要是在光照（紫外、可见光、红外光或者太阳光）条件下纳米材料对一些污染物质（甲基橙、罗丹明 B、亚甲基蓝和 Cr6+等）的降解或者对一些物质的转化（用于选择性的合成过程）。评价指标为污染物质的去除效率、物质的转化效率以及反应的一级动力学常数 k 的大小。 1 、结构表征 XRD，ED，FT-IR, Raman，DLS 2 、成份分析 AAS，ICP-AES，XPS，EDS 3 、形貌表征 TEM，SEM，AFM 4 、性质表征-光、电、磁、热、力等 UV-Vis，PL，Photocu rrent 1. TEM TEM 为透射电子显微镜，分辨率为0.1～0.2nm，放大倍数为几万～百万倍，用于观察超微结构，即小于0.2 微米、光学显微镜下无法看清的结构。TEM 是一种对纳米材料形貌、粒径和尺寸进行表征的常规仪器，一般纳米材料的文献中都会用到。 The morphologies of the samples were studied by a Shimadzu SSX-550 field-emission scanning electron microscopy (SEM) system, and a JEOL JEM-2010 transmission electron microscopy (TEM)[1]. 一般情况下，TEM 还会装配 High-Resolution TEM（高分辨率透射电子显微镜）、EDX（能量弥散 X 射线谱）和 SAED（选区电子衍射）。High-Resolution TEM 用于观察纳米材料的晶面参数，推断出纳米材料的晶型；EDX 一般用于分析样品里面含有的元素，以及元素所占的比率；SAED 用于实现晶体样品的形貌特征与晶体学性质的原位分析。 2. SEM SEM 表示扫描电子显微镜，可以获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息，如形貌、组成、晶体结构和电子结构等等。SEM也是一种对纳米材料形貌、粒径和尺寸进行表征的常规仪器，一般纳米材料的文献中都会用到。 The morphologies of the samples were studied by a Shimadzu SSX-550 field-emission scanning electron microscopy (SEM) system, and a JEOL JEM-2010 transmission electron microscopy (TEM)[1]. SEM 一般会装配 EDX，用于分析材料的元素成分及所占比率。 (a) SEM image of TiO2 nanofibers 3. AFM AFM 是指原子力显微镜，原子力显微镜的优点是在大气条件下，以高倍率观察样品表面，可用于几乎所有样品（对...