用图示仪测量双极性晶体管的直流参数 晶体管在电子技术方面具有广泛的应用。在制造晶体管和集成电路以及使用晶体管的过程中，都要检测其性能。晶体管输入、输出及传输特性普遍采用直接显示的方法来获得特性曲线，进而可测量各种直流参数。 晶体管直流参数测试仪很多 ，JT-1 型晶体管特性图示仪是最常用的 一种。本实验的目的是了解 JT-1 型特性图示仪原理，掌握其使用方法，并用这种仪器进行晶体管直流参数测试及芯片检测，分析晶体管质量，分析晶体管质量，找出失效原因，作为进一步改进器件性能的依据。 一、实验原理 利用图示仪测试晶体管输出特性曲线的原理如图 1 所示。图中 BG 代表被测的 晶体管，RB、EB 构成基极偏流电路。取 EB>>VBE,可使 IB=(EB- VBE)/ RB 基本保持恒定。在晶体管 C-E 之间加入一锯齿波扫描电压，并引入一个小的取样电阻RC，这样加到示波器上X 轴和 Y 轴的电压分别为 Vx =Vce =V ca +V ac=V ca-I c R c ≈V ca Vy=-Ic.Rcα∝-Ic 图 1 测试输出特性曲线的原理电路 当IB 恒定时，在示波器的屏幕上可以看到一根Ic—Vce 的特性曲线，即晶体管共发射极输出特性曲线。 为了显示一组在不同IB 的特性曲线簇Ici=Φ(Ici, Vce)应该在 X 轴的锯齿波扫描电压每变化一个周期时，使 IB 也有一个相应的变化，所以应将图 1 中的 EB 改为能随 X 轴的锯齿波扫描电压变化的阶梯电压。每一个阶梯电压能为被测管的基极提供一定的基极电流，这样不同的阶梯电压VB1 、VB2 、 VB3 …就可对应地提供不同的恒定基极注入电流 IB1 IB2 IB3…。只要能使每一阶梯电压所维持的时间等于集电极回路的锯齿波扫描电压周期，如图 2 所示，就可以在 T0 时刻扫描出 Ic0=Φ(Ib0, Vce)曲线，在 T1 时刻扫描出 Ic1=Φ(Ib1, Vce)曲线…。通常阶梯电压有多少级，就可以相应地扫描出有多少根Ic=Φ(Ib, Vce)输出曲线。JT-1 型晶体管特性图示仪是根据上述的基本工作原理而设计的。它由基极正负阶梯信号发生器，集电极正负扫描电压发生器，X 轴、Y 轴放大器和示波器等部分构成，其组成框图如 3 所示，详细情况可参考图示仪说明书。 BG b Rb VBE IB IC RC VY VX EB 图2 基极阶梯电压与集电极扫描电压间关系 图3 图示仪的组成框图 V CE T IB0 IB IB1 IB2 IBN 基极阶梯发 生器 X 轴放大器 集电极扫描电压 发生器 Y 轴放大器 NPN PNP 功耗电阻 示波管 取...
