半导体物理论文——半导体禁带宽度的测量方法姓名学号单位六院六队摘要禁带宽度是半导体的一个重要特征参量,本文先介绍了禁带宽度的意义,它表示表示晶体中的公有化电子所不能具有的能量范围;表示表示价键束缚的强弱;表示电子与空穴的势能差;是一个标志导电性能好坏的重要参量,但是也不是绝对的等等
其测量方法有利用Subnikov2deHass效应、带间磁反射或磁吸收、回旋共振和非共振吸收、载流子浓度谱、红外光吸收谱等等
其中本文介绍了二种常见的测量方法:利用霍尔效应进行测量和利用光电导法进行测量
1一,引言:关于禁带宽度禁带宽度是半导体的一个重要特征参量,用于表征半导体材料物理特性
所谓禁带是指价带和导带之间,电子不能占据的能量范围,其间隔宽度即是禁带宽度Eg
其涵义有如下四个方面:第一,禁带宽度表示晶体中的公有化电子所不能具有的能量范围:即晶体中不存在具有禁带宽度范围内这些能量的电子,即禁带中没有晶体电子的能级
这是量子效应的结果
注意:虽然禁带中没有公有化电子的能级,但是可以存在非公有化电子(即局域化电子)的能量状态——能级,例如杂质和缺陷上电子的能级
第二,禁带宽度表示价键束缚的强弱:半导体价带中的大量电子都是晶体原子价键上的电子(称为价电子),不能够导电;对于满带,其中填满了价电子,即其中的电子都是受到价键束缚的价电子,不是载流子
只有当价电子跃迁到导带(即本征激发)而产生出自由电子和自由空穴后,才能够导电
因此,禁带宽度的大小实际上是反映了价电子被束缚强弱程度、或者价键强弱的一个物理量,也就是产生本征(热)激发所需要的平均能量
价电子由价带跃迁到导带(即破坏价键)的过程称为本征激发
一个价电子通过热激发由价带跃迁到导带(即破坏一个价键)、而产生一对电子-空穴的几率,与禁带宽度Eg和温度T有指数关系,即等于exp(-Eg/kT)
Si的原子序数比Ge的小,则Si的价电子束缚得较紧