纳米器件与技术noelectronicDevice&Technology低k介质与铜互连集成工艺孙鸣,刘玉岭,刘博,贾英茜(河北工业大学微电子所,天津300130)摘要:阐明了低k介质与铜互连集成工艺取代传统铝工艺在集成电路制造中所发挥的关键作用
依照工艺流程,介绍了如何具体实现IC制造多层互连工艺:嵌入式工艺、低k介质与平坦化、铜电镀工艺与平坦化;阐述了工艺应用现况与存在的难题,给出了国际上较先进的解决方法
关键词:嵌入式工艺;低k介质;铜电镀;化学机械抛光中图分类号:TN405.97文献标识码:A文章编号:16714776(2006)10—0464—06AdvancedICProcessinCopper/Low-kDielectricsInterconnectionsSUNMing,LIUYu—ling,LIUBo,JIAYing—qian(InstituteofMicroelectronicTechnique&Material,HebeiUniversityofTechnology,nin300130,China)Abstract:ThecriticalroleofCu/lowkdielectricsinterconnectionsinsteadofeonventionalAlprocessplayedintheICfabricationwasdemonstrated.Accordingtotheprocessflow,howtorealizetheICfabricationwasdescribed——embeddedprocess.1OWkdielectrics&CMP,CuECP&CMP.Thestatusofprocesslevelandtheissueswerepointedout.theworldadvancedsolutionsweregiven.Keyw