课程名称：集成电路测试技术课程编号：1207011课程学分：3适用专业：微电子学《集成电路测试技术》《TestTechnologyofIntegratedCircuits》教学大纲一、课程性质与任务《集成电路测试技术》是微电子学科的专业方向选修课，该课程在《电子器件》、《半导体集成电路》等课程的基础上，全面系统地介绍集成电路测试的基本原理、基本分析方法。全部内容分为五个部分：第一部分为集成电路测试的基本概念；第二部分为IDDQ测试方法的原理及其应用；第三部分为DFT测试的原理及其应用；第四部分为内嵌式自测试（BIST）的原理及其应用；第五部分为自动测试设备（ATE）的原理和应用。通过学习这门课，学生会有如下收获：[1]使学生知道集成电路测试的重要性；[2]使学生对集成电路测试技术的历史、现状、未来等有一个整体的了解；[3]使学生对集成电路测试的主要几种方法有明确的概念;[4]与先修课《半导体集成电路》相结合，使学生对集成电路可测试性设计、内嵌式自检测（BIST）的原理和设计方法有明确的概念，并能够与集成电路设计相结合，建立起集成电路设计中对可测性问题的总体考虑。二、课程内容及要求1、集成电路测试的基本概念集成电路测试产生的背景了解：在整个集成电路产业链中，为什么要把集成电路测试作为独立的一个环节提出来？将集成电路测试技术作为可靠性和成本考虑的必要性和重要性；2、IDDQ测试方法的原理及其应用主要内容：①IDDQ测试方法的原理②IDDQ测试方法可检测故障类型的分类③IDDQ测试时电流检测计的设计掌握：IDDQ测试方法的原理和可检测故障类型的分类；理解：IDDQ测试故障覆盖率的算法了解：IDDQ测试时，需注意的问题，如电流检测计、电流波形等3、DFT测试的原理及其应用主要内容：①DFT测试的意义和基本概念②DFT设计时需注意的方面③集成电路设计时DFT的应用掌握：DFT测试的意义和基本概念，集成电路设计时如何进行DFT设计理解：在通用型集成电路设计软件中，DFT设计是如何实现的？了解：为提高电路检测故障覆盖率，DFT设计在集成电路设计时需考虑哪些方面？4、内嵌式自测试（BIST）的原理及其应用主要内容：①BIST的原理和基本概念②BIST设计时的算法③在存储器设计时，应用BIST作为故障检测的应用掌握：BIST的原理和基本概念理解：BIST的算法和规则了解：在存储器中应用BIST作为故障检测的应用。5、自动测试设备（ATE）的原理和应用主要内容：①ATE的设计原理②ATE应用时的操作环境和指令编写③虚拟测试技术掌握：ATE的设计原理理解：ATE指令编写格式、虚拟测试技术了解：国际通用ATE设备的分类和主要技术特征三、本课程与其他相关课程的联系与分工本课程的先修课程为《电子器件》、《半导体集成电路》，与之紧密联系的课程是《超大规模集成电路基础》、《集成电路课程设计》；四、实践性教学内容的安排与要求课程进行中，需要学生撰写论文（大作业）两篇以上，内容主要为：（1）测试时的算法；（2）测试故障覆盖率等；五、本课程在课外练习方面的要求要求课内/课外的时间比为1:1，主要作业以习题为主，还有论文（大作业）；除第一章外，每章习题量为3道左右，要求学生独立完成，限期提交。六、本课程在使用现代化教学手段方面的要求课程教学采用计算机多媒体投影，内容有Powerpoint、录像光盘放映等七、学时分配（共80学时）章节内容讲授实验第一章集成电路测试的基本概念3第二章IDDQ测试方法的原理及其应用9第三章DFT测试的原理及其应用12第四章内嵌式自测试（BIST）的原理及其应用18第五章自动测试设备（ATE）的原理和应用6八、教材及参考书教材：秦明，《超大规模集成电路测试技术》，2001，国防出版社参考书：沈绪榜，《超大规模集成电路测试基础》，1995，西安电子科技大学出版社九、本课程成绩的考查方法及评定标准成绩评定采用百分制，期末考试占70%，作业占30%，期末考试为闭卷笔试。大纲撰写人：姜岩峰大纲审阅人：张晓波学科负责人：姜岩峰学院负责人：张常年制订日期：2004-3-1
