光纤测试诊断快速入门(一)衰减值测试福禄克网络公司尹岗我们通常用衰减量来判断光纤安装的质量，多数时候还要求同时测试光纤的长度，看看是否超过了某种应用的长度限制。另一种情况是，在传输丢包率达不到要求的情况下，还要求测试和评估光纤链路中的连接点、熔接点的质量。以便在高速光纤链路中帮助区分是设备(或者设备上的光模块的)问题，还是光纤链路本身的问题。上述两类测试分别对应地被称作“一级测试”和“二级测试”。一级测试(Tier1)的测试参数就是衰减量和长度；二级测试(Tier2)是在一级测试的基础上再增加OTDR曲线测试，主要目的就是显示光纤链路的结构和其中的各种引起质量问题的“质量事件”。先来看看什么叫“一级测试”。衰减测试最基本原理见图一：在光纤的一端是光源，另一端则接一个光功率计。光的功率单位是dB。则（Po-Pi)就是被测光纤链路的衰减值。实际测试的时候需要做一点调整，才能保证测试的可操作性，否则，会遇到许多“工程问题”而无法实施测试。首先，实际测试时一般都会使用“测试跳线”，测试结果就应该把这些测试跳线所引入的衰减扣除掉。图二为实际测试时的一个例子：先将光源和光功率计开机，预热5分钟，待光源稳定后将两根测试跳线用光纤耦合器短接，测出P0值。然后打开耦合器，加入被测光纤，测出Pi，则这根光纤链路的衰减量＝(P0-Pi)。为什么要一定要用“测试跳线”呢？这是因为按照图一的测试模式可以得到Pi，技术上却难得到P0。使用测试跳线的另一个重要原因就是，光源和光功率计的测试插座在经过一定次数的插拔后磨损程度会增加，精度和稳定性会迅速下降---严格地讲，每次插拔后的P0值都是有偏差的。另外，使用一定次数以后，需要更换费用较高的光源和光功率计的插座。而采衰减=P0-Pi光源光功率计被测光纤PoPi图一光源光功率计测试跳线P0测试跳线光纤耦合器跳线插头将两根测试跳线对接测得新定义的P0值图二光源光功率计测试跳线Pi测试跳线被测光纤光纤耦合器拆开耦合器，加入被测光纤测得Pi图三光纤连接器/耦合器用测试跳线的好处是：测试跳线的一端与光源或光功率计相连，另一端与被测光纤链路相连，在一整天或半天的测试工作中一般测试跳线不会从仪器上拔下来，这样被磨损的就只是测试跳线的一端。测试插头被磨损到一定程度后，就可以更换测试跳线，更换测试跳线的费用比更换仪器插座的费用要低得多(100:1以上价格差距)。建议：标记测试跳线插入仪器的那一端，每次都使用此端，可减少漂移，保证精度。上面的测试方法有一点小小的不便---结测试完毕需要做一次减法运算(P0-Pi)，才能得出被测光纤的实际衰减值。在光源稳定后，不拔出光源上连接的测试跳线，这样可认为P0是恒定不变的，我们把此时的P0设为“相对零”(即在光功率计上按下“参考”键)，即强行认为P0=参考零功率，这样就不必去做P0-Pi的运算了---这个在测试前进行的预备操作，也经常被称作“归零”、“设参考零”或“设置基准值”。这样，在接入被测光纤后，光功率计上测得的值就是光纤的衰减值(P0-Pi)，无须再做减法运算。衰减值的单位通常用dB(分贝)来表示，这个值可直接存入光功率计的测试报告中。采用预先设“参考零”值的测试方法，很适合进行大批量的光纤测试工作。因此，测试光纤的衰减量时一般都有一个测试前的“归零”程序，即按图二的方法连接仪器先设置“参考零”(按下“参考”或“归零”键)。然后才按图三的模式进行实际测试。“典型”的被测光纤链路其衰减值由三部分构成，即：被测光纤本身的衰减值加上“两端”连接器各自的衰减值。但细心的读者仔细观察图三后会发现一个问题：在图二中设置“参考零”时，已将2根测试跳线的“光纤衰减值”、1个耦合器的“耦合衰减”和2个仪器插座的“接入衰减”共五部分包含在了“参考零”当中。所以，图三的测试结果只包含了被测光纤本身的衰减值及其一端连接器的“耦合衰减”这两部分的衰减，另一端连接器的耦合衰减则没有包括在被测光纤链路中---因为此连接器的衰减已在设置参考零时被“归零”了。也就是说，测出的衰减结果是“被测光纤及其一端连接器”的衰减值，而非期望的“被测光纤及其两端连接器”的衰减。多数情况下我...
