PCM测试培训概述PCM测试的作用测参数参数有什么作用
•建立器件模型•制定出片标准•监控工艺质量•寻找低良原因PCM设备类型CMOS/BICMOS/E2等低压器件测试设备:4070/4062/450/425;DMOS测试设备:FET3600(兼顾CP测试和中测打点的功能)二极管测试设备:APD01概述三PCM测试系统结构控制终端测试仪TESTER探针台PROBER网线网线概述开关矩阵和针卡电容仪万用表脉冲发射器PCM程序描述4070:语言BASIC程序结构:子程序主程序PRINT文件LIMIT文件坐标文件TESTSUBS
6TESTS
6printTSTLST/TLbkup
std产品测试程序:CODE名TESTS
6printTSTLST/TLbkup
std450程序描述:语言:C子程序主程序标准测试模块LIMITFILE坐标文件产品测试程序:CODE名pgmklfplans
wduPLANSNMOS/PMOSklf
wduPGMcpf/wpf开发PCM程序需要与PCM确认什么信息
测试需要的硬件配(电容仪/脉冲发生仪等)针卡信息针卡上的针间距是否可以与开发产品WAFER上的PAD间距一致;针卡上的针的个数与排列是否与开发产品WAFER上的PAD个数与排列一致测试电压电流要求PCM测试机台是否可以满足4070/4062:见后页450/425:200ma/200vFET3600:5A/2000V4070450PCM测试程序开发开发PCM程序需要提供什么资料
测试模块坐标测试电学条件参数规范PCM程序开发需要填写的表单
E状态产品的更改路径:\\Fas920a\Fab1文件库\特别共享\PI电性测量课\TD程序调试申请报表M/N/P/ER状态的更改使用路径,工作流路径:Ìîдģ°å什么时候需要写申请:单个产品更改的时候,子程序优化走PCM人员走-PCCB