ENVI下的统计分析功能

ENVI 下的统计分析功能 (2011-05-11 14:15:13) 转载 标签： envi 统计功能 感兴趣区统计 背景 it 分类： ENVI ENVI 下的统计分析功能 图像统计是计算表征图像像元值数理统计特征、空间分布特征和空间结构特征的各种参量。ENVI 的统计可对整个图像进行,也可以对某个感兴趣区或某一类地物分布区进行统计，统计结果以数字报表或文件形式给出。 1. 图像像素统计 统计单波段影像的最大、最小值、均值、标准差、协方差和直方图；多波段之间波段间的统计特征包括协方差矩阵、相关系数矩阵、本征向量和散点分布图等 1) 直接统计 (1) 快速统计 快速统计可以快速的统计图像的最大值、最小值、均值、标准差和直方图分布。 在 Av ailable Band List 下相应的文件或波段列表上点击右键菜单，点击Qu ick Statics即可弹出统计界面。 基本统计界面见图，可设置不同的绘图显示、统计信息查看等操作。 选择绘图函数 左键的曲线信息查看 中键（滚轮）按下拉框放大 右键弹出图像绘制参数设置功能菜单 可绘制图例、曲线紧凑、恢复原始显示、打开文件、绘图参数和设置绘图函数等功能。 设置绘图显示参数 查看统计报表 (2) 完整统计 选择菜单[Basic Tools]-[Statistics]-[Compu te Statistics]，选择文件后弹出统计界面。 统计类型包括 Basic Stats（基本统计：最大值、最小值、均值和标准差） Histograms：直方图； Covariance：协方差矩阵、相关系数矩阵和本征向量； Covariance Image：生成协方差、相关系数和本征向量文件； Output to a Statistics File：生成.sta 文件，可通过主菜单[Basic]-[Statics]-[View Statics File]查看； Output to a Text Report File：统计结果输出为文本文件； Report Precision：设置统计精度（浮点数小数点个数）； 2) 去除背景值 很多时候，实际统计只需要统计部分区域，ENVI 可通过感兴趣区或掩膜的方式来实现。 (1) 感兴趣区统计 ENVI的感兴趣区工具启动点击image窗口的[Overlay]-[Region Of Interest]。对已有的 ROI 进行统计可直接点击 ROI 工具上的 Statics 按钮。 需要注意，点击[Basic Tools]-[Statistics]-[Compu te Statistics]功能选择文件时，若选择ROI，则统计的是ROI 的最小外包矩形范围内的图像。 (2) 掩膜统计 统计时可以通过掩膜的方式将不想统计的区域“掩掉”。 掩膜创建方式：[Basic Tools]-[Masking]-[Bu ild M...