PXI 通用测试设备 可靠性设计规范 自动化测试与控制研究所 1 1 . 范围 1 .1 主题内容 PX I 产品可应用于武器装备测试系统，为我国武器系统发挥威力的提供保障设备，对提高部队装备水平和作战能力具有重要意义。PX I产品安装在机箱内，由PX I 控制计算机控制，用于实现PX I 测控系统的输入输出控制以及与其他系统的通信联系。 在PX I 产品的研制、生产过程中，应贯彻国家有关标准化的方针政策，积极开展可靠性设计工作。可靠性设计规范规定了通用要求和工作项目，以作为开展可靠性设计工作的依据。 1 .2 适用范围 本指导性技术文件适用于PX I 总线通用测试设备的可靠性设计，适用于方案设计阶段、技术设计阶段、施工设计阶段和设计定型阶段以及生产研制阶段的全过程。 2 2 . 引用文件 GJB450A-2004《装备可靠性通用要求》 《PX I 模块系列模块研制任务书》 3 3 . 可靠性要求 3 .1 可靠性设计的目标 可靠性设计的目标是使产品的设计和制作全面达到设计要求规定的各项要求。从而提高产品的任务成功能力，减少对维修人力和后勤保证要求，提高产品质量，节约费用，获得良好的军事和经济效益。 3 .2 可靠性定性要求 确定关键件、重要件，充分考虑环境防护设计等，环境条件应满足设计要求的规定。采用研制、生产过程质量保证措施，降低致命故障发生率。 3 .3 可靠性指标 按照设计任务书，PXI 通用测试设备的平均无故障时间 MTBF不小于 10000h，平均故障修复时间 MTTR 不大于 30min。 4 4 . 可靠性设计 4 .1 影响可靠性的主要因素 气候条件、机械作用力和电磁干扰是影响电子设备的主要因素。必须采取适当的防护措施，将各种不良影响降低到最低限度，以保证电子设备稳定、可靠地工作。 按照任务书要求PX I 通用测试设备环境条件如下： （1）PX I 功能模块 工作温度：-10℃～55℃ 存储温度：-40℃～70℃ （2）PX I 控制器模块及机箱 工作温度：0℃～55℃ 存储温度：-20℃～70℃ 按照任务书要求，PX I 模块及机箱应进行环境应力筛选试验、环境适应性试验、电磁兼容性试验、老炼试验和可靠性试验，试验条件见任务书。 4 .2 建立可靠性模型 根据系统地组成和功能框图，建立可靠性框图。 4 .3 可靠性的分配和设计 根据主要单元的可靠性模型进行可靠性的预计。 5 4 .4 故障模式、影响分析 应系统地分析主要单元的零件、元器件、设备可能的故障模式、故障原因及结...
