X射线荧光光谱仪校准操作规程

X 射线荧光光谱仪1 适用范围本规范适用于使用中和修理后的能量色散 X 射线荧光光谱仪的校准。2 参考文献JJG810-1993 波长色散 X 射线荧光光谱仪检定规程SN/T2003.1：2005X 射线荧光光谱法测铅，汞，铬，镉，溴SJ/T11365-2006 电子信息产品中有毒有害物质的检测方法3 概述能量色散 X 射线荧光光谱仪用于固体、粉末或液体物质的元素分析。工作的基本原理是 X 射线管发出的初级 X 射线激发试样中的原子，测定由此产生的 X 射线的荧光的能量强度，根据各种元素特征 X 荧光光谱线的能量强度进行元素的定性和定量分析。工厂购买能量色散 X 射线荧光光谱仪，主要用来确定产品中有害物质含量是否超标，主要依据是欧盟委员会先后颁布的(2002/95/EC)指令和 2005/618/EC 决议。其中铅(Pb)、汞(Hg)、六价铬(Cr6+)、多溴联苯(PBB)、多溴二苯醚(PBDE)的最大允许含量为0.1%(1000mg/kg),镉(cd)为 0.01%(100mg/kg)该限值是制定产品是否符合 RoHS 指令的法定依据。金属材质只需要做重金属检测(铅、汞、镉、六价铬)，塑料材质需要做规定的六项(铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯、多溴二苯醚)，其它材质只需做重金属测试。X 射线荧光光谱仪主要作用是做有害物质总含量的分析，对产品起到快速筛选的作用。基体 matrix含有或附有被分析物的材料或物质。背 景 background 叠 加 在 分 析 线 上 的 连 续 谱 ， 主 要 来 自 试 料 对 入 射 辐 射 的 散 射 。 检 出 限limitofdetection 在一定置信水平下能检出的最低含量。干扰线 interferencelines 与分析线重叠或部分重叠，从而影响对分析线强度进行准确测量的谱线。4 计量性能要求4.1 外观4.1.1 仪器应有仪器名称、制造厂、出厂日期和编号的标志。4.1.2 所有部件连接良好、动作正常。4.1.3 面板上的仪表、指示灯和安全保护装置工作正常。4.2 技术性能技术性能包括仪器对塑料材质中有害物质（铅、汞、镉、铬、溴）测试时的检出限、示值误差、重复性、稳定性；以及对金属铜合金中重金属检测（铅、镉、铬）测试时的检出限、含量测试示值误差、重复性、稳定性。5校准条件5.1 校准的环境条件5.1.1 环境温度：（15—28）°C5.1.2 相对湿度：＜70%，或按仪器说明书规定。5.1.3 电源：电压 AC（220±22）V5.1.4 仪器及电源应有良好接地。5.2 校准设备5.2.1EDX 塑胶标准样品5.2.2EDX 铜合金标准样品6 校准项目和校准方法6.1外观及仪器工作性能正...