半导体相关知识♦本征材料:纯硅 9JO 个 9250000Q+cm• N 型硅:掺入 1V 族元素--磷 P、彳申 As、鲜Sb• P 型硅:掺入 III 族元索一稼 Ga、硼 B• PN 结:POQO©OON半导体元件制造过程可分为•前段(FrontEnd)制程晶圆处理制程(WaferFabrication;简称 WaferFab)、晶圆针测制程(WaferProbe);•後段(BackEnd)构装(Packaging)、测试制程(InitialTestandFinalTest)晶圆处理制程•晶圆处理制程之主要工作为在矽晶圆上制作电路与电子元件(如电晶体、电容体、逻辑闸等),为上述各制程中所需技术最复杂资金投入最多的过程,以微处理器(Microprocessor)为例,其所需处理步骤可达数白道,I佰其所需加工机台先进且昂贵,动辄数千万一台,苴所需制造环境为为一温度、湿度与含尘(Particle)均需控制的无尘室(ClemrvRoom),虽然详细的处理程序是随著产品种类与所使用的技术有关;不过其基本处理步骤通常是晶圆先经过适当的清洗(Cleaning)之後,接著进行氧化(Oxidation)及沈积,最後进行微影、蚀刻及离子植入等反覆步骤,以完成晶圆上电路的加工与制作
二、晶圆针测制程•经过 WaferFabZ 制程後,晶圆上即形成一格格的小格,我们称之为晶方或是品粒(Die),在一般情形下,同一片晶圆上皆制作相同的晶片,但是也有可能在同一片晶圆上制作不同规格的产品;这些晶圆必须通过晶片允收测试,晶粒将会一一经过针测(Probe)仪器以测试其电气特性,而不合格的的晶粒将会被标上记号(InkDot),此程序即称之为晶圆针测制程(WaferProbe)
然後晶圆将侬晶粒为单位分割成一粒粒独立的晶粒三、:tc 构装制程• IC 構裝製程(Packaging):利用塑膠或陶瓷包裝晶粒