国立清华大学硕士论文模块制程之精实流程改善--以光电模块与 IC 测试为例Lean Process Improvement for Module Processes- Using Optronics Module and IC Testing as Examples所别工业工程与工程管理所组别工程管理组学号 9534620 熊君凯 指导教授朱诣博士中华民国九十七年六月模块制程之精实流程改善—以光电模块与 IC 测试为例讨论生：熊君凯指导教授：朱诣博士国立清华大学工业工程与工程管理讨论所摘要本讨论探讨议题为探讨光电模块与 IC 测试厂如何利用精实流程改善的观念提升自身生产的绩效与企业的竞争力。由于传统的流程改善多把焦点放在能产生附加价值的动作上，忽略了其它不具附加价值的动作以与潜藏的生产浪费。因此本讨论从精实消除浪费的精神出发，提出精实流程改善的方法，强调从浪费面执行生产流程之改善，去除一切不必要的浪费与不具附加价值的动作。探讨对象选取光电模块与 IC 测试公司，包括了 LCD 面板、背光模块、光收发模块与 IC 测试的代表性个案，除了利用现场实地收集数据的方式验证改善的成效以外，也实行个案访谈的途径深化分析个案公司如何进行精实流程改善、改善过程中会遇到哪些影响问题、改善的改善方法、改善围等构面，最后将结果归纳成一整合模型，具体呈现各个构面之间的关系。最后提出导入精实流程改善的流程架构，说明企业应该如何运用本讨论提出之模型导入精实流程改善。本讨论的结果将有助于企业找出未来改善的契机和机会，加快改善过程中摸索的时间，并且依循着导入的流程一步步让公司朝精实的目标迈进。关键词：光电模块(Optronics Module)、精实流程改善(Lean Process Improvement)、生产周期时间(Cycle Time)、精实生产(Lean Production)Lean Process Improvement for Module Processes- Using Optronics Module and IC Testing as ExamplesStudent： Chun-Kai Hsiung Advisor： Dr. Yee-Yeen ChuDepartment of Industrial Engineering & Engineering ManagementNational Tsing Hua UniversityAbstract The issues in this research discuss how optronics module and IC testing factories in Taiwan enhance their production performance and competitive advantage with lean process improvement. Originally, traditional process improvement concepts always focus on value-added parts s...
