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材料分析方法考试重点

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材料分析方法X 射线得本质就是一种横电磁波,具有波粒二象性,伦琴首先发现了 X 射线,劳厄揭示了 X 射线得本质。X 射线得波长范围在 0、001-10nm,用于衍射分析得 X 射线波长范围0、05-0、25nm。 X 射线得产生通常获得 X 射线得方法就是利用一种类似热阴极二极管得装置,用一定材料制作得板状阳极板与阴极密封在一个玻璃-金属管内,阴极通电加热,在阳极与阴极间加一直流高压 U,则阴极产生得大量热电子 e 将在高压场作用下飞向阳极,在它们与阳极碰撞得瞬间产生 X射线。连续 X 射线谱:由于极大数量得电子射到阳极上得时间与条件不可能相同,因而得到得电磁波将具有连续得各种波长,形成连续 X 射线谱。 特征 X 射线谱:当加于 X 射线管两端得电压增高到与阳极靶材相应得某一特定值时,在连续谱得某些特定得波长位置,会出现一系列强度很高,波长范围很窄得线状光谱,这就就是特征 X 射线谱。光电效应:入射光子被原子吸收后,获得能量得电子从内层溢出,成为自由电子,这种原子被入射辐射点离得现象即光电效应。俄歇效应:一个 k 层空位被两个 L 层空位代替得过程得现象就就是俄歇效应。靶材与滤波片得选择原则分别从吸收限波长与原子序数两个方面表达滤波片与靶材得选择规程(表达式)滤波片得选择:λKβ(光源)< λK(滤波片) <λKα(光源)αZ 靶<= 40 时,Z 滤 = Z 靶 – 1Z 靶> 40 时,Z 滤 = Z 靶 – 2阳极靶材得选择:λKα(光源) > λK(样品)Z 靶 <= Z 样品Z 靶 <= Z 样品 + 1相干散射:X 射线穿过物质发生散射时,散射波长与原波长相同,有可能相互干涉,这就是。。非相干散射:X 射线穿过物质发生散射时,能量发生损失,波长发生变化,散射波长与原波长不相同,这就就是非相干散射。等效干涉面:晶面(hkl)得 n 级反射面(nh nk nl),用符号(HKL)表示,成为反射面或干涉面。空间点阵:倒易点阵:单晶、多晶、非晶得 X 射线仪衍射花样及形成原理答:(1)单晶电子衍射成像原理与衍射花样特征因电子衍射得衍射角很小,故只有 O*附近落在厄瓦尔德球面上得那些倒易结点所代表得晶面组满足布拉格条件而产生衍射束,产生衍射得厄瓦尔德球面可近似瞧成一平面。电子衍射花样即为零层倒易面中满足衍射条件得那些倒易阵点得放大像。花样特征:薄单晶体产生大量强度不等、排列十分规则得衍射斑点组成,(2)、多晶体得电子衍射成像原理与花样特征多晶试样可以瞧成就...

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