量测系统（量具之变异在可允许之范围内）品质之决定进料检验完工检验制程能力分析双边规格单边规格（品质特性质）计量值从←X，σ←S计数值P←PCaCpCpkP(不良率)量测系统品质之决定制程管制制程能力分析品质特性质计量值从-X-R,X-6,X-R,X-Rm计数值-Pm,P,C,U,D新速管制图雅式管制图CaCpCpkP(不良率)不同单位之品质比较，使用Cv（变异系数）=S/X（或同一单位，但不同品质特性质）STATISTICALPROCESSCONTROL(SPC)(统计制程管制)一、管制图之选用以管制图进行制程能力分析一组数据之变化情形，除了可以用图形法来表示外，数量化之描述亦以提供有用之情报。数据之量化表示有很多种，常用的有平均数（mean）、中位数（median）、众数（mode）、变异数（variance）、标准差（standarddeviation）。1.平均数假设X1，X2，…，Xn为样本中之观测值，样本数据之集中趋势可由样本平均数来衡量，样本平均数定义为¯X=X1+X2+¿⋅¿+Xnn=∑i=1nXin2.变异数变异数是用来衡量数据之散布情形。样本变异数S2为S2=∑i=1n(Xi−¯X)2n−1=∑i−1nXi2−(∑i=1nXi)2nn−1计数值管制图1．不良率管制图（pchart）CLp=¯p=∑d∑nUCLp=¯p+3√¯p(1−¯p)nLCLp=¯p−3√¯p(1−¯p)n2.不良数管制图(pnchart)CLpn=n¯p=¯d=∑dkUCLpn=n¯p+3√n¯p(1−¯p)LCLpn=n¯p−3√n¯p(1−¯p)(σpn=√n¯p(1−¯p))3．缺点数管制图（cchart），样本大小相同CLc=∑Ck=¯CUCLc=¯C+3√¯CLCLc=¯C−3√¯C4．单位缺点数（uchart），样本大小不相同CLu=¯u=∑C∑nUCLu=¯u+3√¯unLCLu=¯u−3√¯un计量值管制图¯X−R管制图管制图类别群体之μ及σ未知时群体之μ及σ已知时平均值管制图CLx=XUCLX=X+A2¯RLCLX=X−A2SCLX=μUCLX=μ+AσLCLX=μ−Aσ全距管制图CLR=¯RUCLR=D4¯RLCLR=D3¯RCLR=d2σUCLR=D2σLCLR=D1σ¯X-S管制界限公式图别群体情况未知群体情况已知平均值管制图CLX=¯XUCLx=X+A3¯SLCLX=¯X−A3¯SCLX=μUCLX=μ+AσLCLX=μ-Aσ标准差管制图CLs=¯SUCLs=B4¯SLCLs=B3¯SCLS=C2σUCLS=B2σLCLS=B1σ~X−R管制图图别群体情况未知群体情况已知中位值管制图CL~X=∑~Xk=~XUCL~X=~X+m3A2¯RLCL~X=~X−m3A2¯RCLX=μUCLx=~X+3m3σ√nLCL¯x=~X−3m3σ√n全距管制图CLn=∑Rk=¯RUCLR=D4¯RLCLn=D3¯RCLR=d2σUCLR=D2σLCLR=D1σX-Rm管制图X管制图¯Rm管制图CLx=¯XCLnm=¯RmUCLx=¯X+3d2¯RmUCLnm=D4¯RmLCLx=¯X−3d2¯RmLCLnm=D3¯Rm机遇原因之变异（commoncause）非机遇原因之变异（specialcause）1.大量之微小原因所引起。2.不管发生何种之机遇原因，其个别之变异极为微小。3.几个较为代表性之机遇原因如下：（1）原料之微小变异。（2）机遇之微小振动。1.一个或少数几个较大原因所引起。2.任何一个非机遇原因，都可能发生大之变异。3.几个较为代表性之非机遇原因如下：（1）原料群体之不良。（3）机器测定时不十分精确之作法。4.实际上要除去制程上之机遇变异原因，是件非常不经济之处置。（2）不完全之机遇调整。（3）新手之作业员。4.非机遇原因之变异不但可以找出其原因，并且除去这些原因之处置，在经济观点上讲常是正确者。管制图之选定资料性质？资料是不良数或缺点数？样本大小n≥2?中心线CL之性质？n是否一定？单位大小是否一定？n是否较大？X―σ图X―R图X―Rm图―R图pn图p图C图u图计量值计数值n≥2n=1不良数缺点数一定不一定一定不一定Xn=2~50
