电脑桌面
添加小米粒文库到电脑桌面
安装后可以在桌面快捷访问

300mm工件TOFD检测工艺VIP免费

300mm工件TOFD检测工艺_第1页
300mm工件TOFD检测工艺_第2页
300mm工件TOFD检测工艺_第3页
第1页共7页编号:时间:2021年x月x日书山有路勤为径,学海无涯苦作舟页码:第1页共7页300mm工件TOFD检测工艺一、编制依据:1、JB/T4730.10《承压设备无损检测衍射时差法超声检测》;2、本单位有关检测技术文件。二、被检工件基本情况设备名称及单位内编号设备类别Ⅲ设备规格300mm主体材质16MnR工作介质设备状态在制接头型式对接接头坡口型式U型坡口焊接方法埋弧自动焊焊后热处理检测部位检测比例100%三、检测设备器材:1、仪器:*********2、探头规格及楔块角度序号探头频率探头直径楔块角度17.536025660358554312455312453、扫查装置:手动单轴扫查器,带滚轮编码器4、对比试块:300mm比试块。四、检测人员:1、从事TOFD检测的人员应按照质检特函【2007】402号文的要求至少具有UTII级资格4年以上(含4年)或UTIII级,同时其操作技能经全国无损检测考核委员会考核合格。2、检测人员应熟悉所使用的检测设备;3、检测人员应熟悉有关的标准法规,具有实际检测经验并掌握一定的压力容器结构及制造基础知识;五、检测准备:第2页共7页第1页共7页编号:时间:2021年x月x日书山有路勤为径,学海无涯苦作舟页码:第2页共7页1、确定检测区域检测区域应包括焊缝熔合线两侧各50mm的区域;画线:在焊缝两侧50mm的位置各画一条线,每间隔一米做一条扫查标记线。2、扫查面准备:焊缝每侧打磨宽度为245mm(根据PCS)应清除焊接飞溅、铁屑、油垢及其他杂质。检测表面应平整,其表面粗糙度Ra值不低于6.3um,一般应进行打磨。要求去除余高的焊缝,应将余高打磨到与邻近母材平齐;保留余高的焊缝,如果焊缝表面有咬边、较大的隆起和凹陷等也应进行适当的修磨,并作圆滑过渡以免影响检测结果的评定。3、耦合剂:水或机油。4、检测温度:20-30℃。六、检测设置和校准1、探头选取和设置:通道深度范围(mm)标称频率(MHz)声束角度α(°)晶片直径(mm)PCS(mm)10-407.560393240-905606254390-15055583724150-225345124005225-30034512500将探头固定在扫查装置上,安装位置传感器,连接它们与仪器间的线缆并开机。2、仪器初调选择A扫描的RF波形和TOFD显示模式等。第3页共7页第2页共7页编号:时间:2021年x月x日书山有路勤为径,学海无涯苦作舟页码:第3页共7页设置1:标称频率7.5M,晶片直径Φ3mm,声速角度60°,扫查区域0-40mm(应扫查0-53实际扫查0-74mm)PROBES:Probe/7.50MHz./60°L/PCS=93mm设置2:标称频率5M,晶片直径Φ6mm,声速角度60°,扫查区域:40-90mm(应扫查30-105、实际扫查21-154)PROBES:Probe/5MHz./60°L/PCS=254第4页共7页第3页共7页编号:时间:2021年x月x日书山有路勤为径,学海无涯苦作舟页码:第4页共7页设置3:标称频率5M,晶片直径Φ8mm,声速角度55°,扫查区域:90-150mm(应扫查77-169、实际扫查74-209mm)PROBES:Probe/5MHz./55°L/PCS=372mm设置4:标称频率3M,晶片直径Φ12mm,声速角度45°,扫查区域:150-225mm(应扫查135-244、实际扫查129-309mm)第5页共7页第4页共7页编号:时间:2021年x月x日书山有路勤为径,学海无涯苦作舟页码:第5页共7页PROBES:Probe/3MHz./45°L/PCS=400mm设置5:标称频率3M,晶片直径Φ12mm,声速角度45°,扫查区域:225-300mm(应扫查206-300、实际扫查162-300mm)PROBES:Probe/3MHz./45°L/PCS=500mm(底面±50mm)第6页共7页第5页共7页编号:时间:2021年x月x日书山有路勤为径,学海无涯苦作舟页码:第6页共7页3、设置A扫描时间窗口通道1:起始为直通波到达探头前1µs,终止为54mm;通道2:(30—105mm)通道3:(77—169mm)通道4:(135—244mm)通道5:(206—300mm)窗口宽度设置为底面一次反射波到达接收探头后1µs。4、选择合适的探头激发电压调节探头激发电压,观察不同电压值下的A扫描信号幅度状况,确定适合的电压值。5、校准超声波在探头楔块中传播的时间和深度;在试块上校验时应保证深度测量误差不大于厚度的(1%*300)=3.0mm。6、设置灵敏度:找到各区对应的对比试块中的侧孔信号,将其中较弱的衍射信号波幅设置为满屏高的40%-80%,并在工件表面扫查时提高增益4dB作为表面耦合补偿。7、设置扫查增量:设定为1mm。8、校准位置传...

1、当您付费下载文档后,您只拥有了使用权限,并不意味着购买了版权,文档只能用于自身使用,不得用于其他商业用途(如 [转卖]进行直接盈利或[编辑后售卖]进行间接盈利)。
2、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。
3、如文档内容存在违规,或者侵犯商业秘密、侵犯著作权等,请点击“违规举报”。

碎片内容

中小学教育精品资料+ 关注
实名认证
内容提供者

中小学教育资料,优质文档创作者

确认删除?
VIP
微信客服
  • 扫码咨询
会员Q群
  • 会员专属群点击这里加入QQ群
客服邮箱
回到顶部