电子器件失效分析学习心得失效分析与无损检测技术综合应用心得体会11级检测技术及应用11802205薛星2013年5月30日尊敬的马老师：您好。我是11级检测技术及应用的班长薛星。通过这次的讲座，使我受益匪浅。您给我们针对cr技术、失效分析和无损检测的新技术进行了一一的讲解，让我们对我们的专业有了进一步的认识，也对本专业的发展有了深入了解。cr技术（computedradiography；computedradiology），是一种数字化的新的非胶片射线照相检验技术。目前，它采用贮存荧光成像板（storagephosphorimagingplate）完成射线照相检验。采用贮存荧光成像板的cr技术，是基于某些荧光发射物质，具有保留潜在图像信息的能力。这些荧光物质受到射线照射时，在较高能带俘获的电子形成光激发射荧光中心（plc）。采用激光激发时，光激发射荧光中心的电子将返回它们初始能级，并以发射可见光的形式输出能量。这种光发射与原来接收的射线剂量成比例。这样，当激光束扫描贮存荧光成像板时，就可将射线照相图像转化为可见的图像无损检测新技术有激光超声检测方法、激光（错位）散斑检测方法、红外热像检测方法、微波检测技术、超声波时差衍射技术、金属磁记忆检测技术、数字射线成像技术、远场涡流检测技术等。其中红外热像检测对蜂窝积水问题的应用较多。本次的讲座让我们对无损检测的发展前景充满了信心，随着社会的发展，无损检测技术的应用也随之增多。讲座针对无损检测技术、设备和应用都做了讲解，使我们对无损检测从理论到应用都有了深入了解。相信通过我们的认真学习，一定会在无损检测技术中提高理论和实践的只是和技能。近年来，随着军事工业和航空航天工业中各种高性能的复合材料、陶瓷材第1页共2页料的应用，微波无损检测的理论、技术和硬件系统都有了长足的进步，从而大大推动了无损检测技术的发展。第2页共2页
