第二部分近场工作区反射电平测试方法一、测试项目及频率测试项目测试频率点工作区反射电平1GHz、2GHz、 5GHz、10GHz、18GHz、40GHz二、测试主要仪器设备仪 器 名 称型号技 术 指 标合成信号发生器8257D 250kHz ～ 40GHz 频谱分析仪E4447A 10Hz ～ 43GHz 低噪声放大器CBL01403060R 1.0GHz ～ 40GHz 角锥喇叭天线HD-100HA20+S 8GHz ～ 12GHz 角锥喇叭天线HD-140HA20+S 11.9GHz ～ 18GHz 角锥喇叭天线HD-320HA25+K 26.3GHz ～ 40GHz 角锥喇叭天线BJ320 26.4GHz ～ 40GHz 双脊喇叭天线SAS-571 700MHz ～ 18GHz 测试系统控制器非标三、近场工作区反射电平测试原理及方法3.1、近场工作区反射电平测试原理采用自由空间电压驻波比法测量近场工作区反射电平，测量原理是基于微波暗室中存在有直射信号和反射信号， 微波暗室中空间任意一点的场强是直射信号和反射信号的矢量合， 在空间形成驻波， 驻波数值的大小就反映了微波暗室内反射电平的大小。图 2-1 VSWR 法测量原理图如图 2-1 所示，当接收天线主瓣对准发射天线时，所接收到的信号为ED。移动接收天线，则接收天线的直射信号ED 与反射信号ER 的相对相位将会改变，此时接收天线收到的信号幅度将产生波动，如图2-2 所示，这一波动反映空间固有驻波，由此即可得到反射电平。图 2-2 暗室空间驻波图将接收天线转到比最大电平低a（dB）的方位角时，则所接收的直射信号E =ED10a/20。当反射信号与直射信号同相时合成场最大，这时以b 表示：DRaDDREEEEEEb2010lg20lg20式中： ER接收天线处于方位角时的等效反射信号 ED 沿室轴照射的直射波场强 a 接收天线处于方位角时的方向图电平当反射信号与直射信号反相时合成场最小，这时以c 表示：DRaDDREEEEEEc2010lg20lg20则反射电平：acbd(m)VSWR(dB)接收天线EDER发射天线11011010lg20lg2020/20/20/）（）（）（cbcbaDREER110110lg2020/)(20/)(cbcba因此测出空间驻波曲线和接收天线方向图，就可以计算出微波暗室反射电平。3.2、测试方法在近场工作区内针对主反射墙的吸波材料进行特定频段吸收特性的测试。3.3、测试位置的选取测试近场工作区反射电平时， 发射天线先置于暗室中心轴线上，接收天线置于正对被测墙壁的一个合理位置， 并沿两天线轴线移动一段距离进行反射电平的测试。测试位置如图2-3、图 2-4 所示。发射源3.5m3.5m8m2mIIIIII图 2-3 近场静区测试位置示意图( 俯视图 )发射源3m3m2mH3H2H...
