四探针法测量电阻率和薄层电阻
四探针法测量半导体电阻率及薄层电阻 【实验目的】 1、掌握四探针测量半导体材料电阻率和薄层电阻的测量原理及方法; 2、针对不同几何形...
实验 四探针法测电阻率 1 .实验目的: 学习用四探针法测量半导体材料的体电阻率和扩散薄层的电阻率及方块电阻。 2 .实验内容 ① ...
实验 四探针法测电阻率 1 .实验目的: 学习用四探针法测量半导体材料的体电阻率和扩散薄层的电阻率及方块电阻。 2 .实验内容 ① ...
1 四探针法测量高导电率材料 的电导率 西 安 交 通 大 学 理 学 院 2004.08 2四探针法测量高导电率材料 的电导率 一.前言...
实验四探针法测电阻率1.实验目的:学习用四探针法测量半导体材料的体电阻率和扩散薄层的电阻率及方块电阻。2.实验内容①硅单晶片电阻率的...
《半导体物理学》四探针法扩散薄层方块电阻的测量实验报告通信工程学院微电子121班小组成员姓名:学号:付天飞2012102027刘静帆2012102025...
利用直流四探针法测量半导体的电阻率一,测试原理:当四根金属探针排成一条直线,并以一定压力压在半导体材料上时,在1,4两根探针间通过电流I,...
实验四探针法测电阻率1.实验目的:学习用四探针法测量半导体材料的体电阻率和扩散薄层的电阻率及方块电阻。2.实验内容①硅单晶片电阻率的...