SPC 所有公式详细解释及分析 SPC 统计制程管制 计量值管制图： Xbar-R(平均-全距)、Xbar-S(平均-标准差)、X-MR(个别值-移动全距)、EWMA、CUSUM 等管制图
计数值管制图： 不良率 p、不良数 np、良率 1-p、缺点数 c、单位缺点数 u 等管制图
常用分析工具： 直方图、柏拉图、散布图、推移图、%GRR
公式解说 制程能力指数 制程能力分析 制程能力研究在于确认这些特性符合规格的程度，以保证制程成品不符规格的不良率在要求的水准之上，作为制程持续改善的依据
制程能力研究的时机分短期制程能力研究及长期制程能力研究，短期着重在新产品及新制程的试作、初期生产、工程变更或制程设备改变等阶段；长期以量产期间为主
制程能力指针 Cp 或 Cpk 之值在一产品或制程特性分配为常态且在管制状态下时，可经由常态分配之机率计算，换算为该产品或制程特性的良率或不良率，同时亦可以几 Sigma 来对照
计数值统计数据的数量表示 缺点及不良(Defects VS
Defectives) 缺点代表一单位产品不符要求的点数，一单位产品不良可能有一个缺点或多个缺点，此为计点的品质指针
例如描述一匹布或一铸件的品质，可用每公尺棉布有几个疵点，一铸件表面有几个气孔或砂眼来表达，无尘室中每立 方公尺含 微 粒 之个数，一片PCB 有几个零 件及几个焊 点有缺点，一片 按 键 有几个杂 质、包 风 、印 刷 等缺点，这些都 是 以计点方式表示一单位产品的特性值
不良代表一单位产品有不符要求的缺点，可能有一个或一个以上，此将产品分类 为好 与 坏 、良与 不良及合格与 不合格等所谓 的通 过 － 不通 过 (Go-NoGo)的衡 量方式称 为计件的品质指针
例如单位产品必 须 以二 分法 来判 定 品质，不良的单位产品必 须 报 废 或重修 ，这是 以计件方式来表
