系 别 班 次 学 号 姓 名 . … … … 密 … … … 封 … … … 线 … … … 以 … … … 内 … … … 答 … … … 题 … … … 无 … … … 效 … … 第 1 页 共 10页 电 子 科 技 大 学 二 零 零 八 至 二 零 零 八 学 年 第 二 学 期 软 件 测 试 技 术 （ B 卷 ） 课 程 考 试 题 （ 120 分 钟 ） 闭 卷 考 试 时 间 ： 2008 一 二 三 四 总 分 评 卷 教 师 说明：本试卷共四大题，试卷满分100 分。 注意：． ． ． 请将所有答案填写在最后一页答题卡上。． ． ． ． ． ． ． ． ． ． ． ． ． ． ． ． ． ． 一、单项选择题：共20 小题，每小题2 分，满分40 分。 1． 软 件 测 试 的 目 的 :（ c ） A. 避 免 软 件 开 发 中 出 现 的 错 误 B. 发 现 软 件 开 发 中 出 现 的 错 误 C. 尽 可 能 发 现 并 排 除 软 件 中 潜 藏 的 错 误 ， 提 高 软 件 的 可 靠 性 D. 修 改 软 件 中 出 现 的 错 误 2、 软 件 测 试 是 采 用 （ a ） 执 行 软 件 的 活 动 。 A． 测 试 用 例 B． 输 入 数 据 C． 测 试 环 境 D． 输 入 条 件 3、 导 致 软 件 缺 陷 的 最 大 原 因 是 ：（ a ） A． 软 件 需 求 说 明 书 B． 设 计 方 案 C． 编 码 D． 维 护 4、 在 下 列 描 述 中 ， 关 于 一 个 软 件 缺 陷 状态完整变化的 错 误 描 述 是 （ d ） A、 打开 ——修 复——关 闭 B、 打开 ——关 闭 C、 打开 ——保留 D、 激活 ——修 复——重新打开 5、 在 下 列 描 述 中 ， 关 于 测 试 与调试 的 说 法错 误 的 是 （ d ） A、 测 试 是 显示错 误 的 行 为；而调试 是 推理的 过程 ； B、 测 试 显示开 发 人员的 错 误 。 调试 是 开 发 人员为自己辩护 ； C、 测 试 能 预期 和可 控 。 调试 需 要 想 象 、 经 验 和思 考 ； D、 测 试 必 须 在 详 细 设 计 已 经 完成 的 情 况 下 才 能 开 始 ；没 有 详 细 设 计 的 信 息 调试 不 可 能 进 行 。 6、 某 次 ...
