元器件失效模式(RAC)

元器件失效模式及其失效比例兀器件名称失效模式比例％兀器件名称失效模式比例％二极管电压调整一极管侪纳）开路45.0普通二极管短路49.0参数变化35.0开路36.0短路20.0参数变化15.0晶体管微波二极管开路60.0双极型晶体管短路73.0参数变化28.0开路27.0短路12.0场效应晶体管短路51.0整流二极管短路51.0输出偏低22.0开路29.0参数变化17.0参数变化20.0开路5.0可控硅整流一极管短路98.0输出偏咼5.0开路2.0GaAs 场效应晶体管短路61.0小信号二极管参数变化58.0开路26.0开路24.0参数变化13.0短路18.0射频晶体管参数变化50.0开关二极管短路40.9短路40.0不连续22.7开路10.0开路9.1复式晶体管短路61.1烧毁9.1加压不当11.1参数负漂移4.5基极开路5.6游离颗粒4.5发射极开路5.6其它9.1连续损耗5.6半导体闸流管断不开45.0无输出5.6短路40.0结构5.6开路10.0光电子器件闭合失效5.0发光二极管开路70.0三端双向可控硅开关二极管断开失效90.0短路30.0闭合失效10.0退化54.9电压基准二极管侪纳）参数变化69.0不能切换27.5开路18.0过电应力5.9短路13.0光电耦口器开路5.9接线故障3.9元器件失效模式及其失效比例（表续）兀器件名称失效模式比例％兀器件名称失效模式比例％光电耦合器（续）污染2.0运算放大器（续）功能失效1.5光电传感器短路50.0电压基准源电学失效34.5开路50.0氧化层缺陷34.5模拟电路参数不符13.8线性电路输出超差77.0电压不当6.9无输出23.0机械故障3.4开关集成电路电学失效56.6破碎3.4输出错误16.8不连续3.4不开关11.5电压调整器电学失效64.9机械损伤10.4电过应力20.5无输出2.5短路4.6漏电2.2接线失效4.3通用放大器开路29.6机械失效4.3电过应力23.2输出错误1.3参数不符21.6比较器电学失效77.9机械过应力16.8机械失效13.9导线故障4.8电过应力2.6增益偏低4.0开路2.5塑封放大器参数不符94.9参数不符2.2低电平不足1.7电压错误0.8短路1.7塑封电压比较器参数不符49.6功能失效1.7电失效35.8陶瓷封装放大器参数不符90.0机械故障8.0输出偏低2.5开路2.9机械失效2.5接线故障2.2电性能失效2.5污染1.5外壳裂缝2.5振荡器漏电40.0电性能失效60.0定时失效16.0机械失效19.2污染16.0过电应力9.1电压不当12.0运算放大器参数失效8.1接线不当8.0开路2.1起泡/脱皮8.0元器件失效模式及其失效比例（表续）兀器件名称失效模式比例％兀器件名称失效模式比例％控制器短路34.8ROM数据丢失24.4参数不符28.4短路21.5开路20.8解码失效18.2功能失效10.6漏电13.4导线故障3.4行/列失效12.0偶然失...