光纤测试诊断快速入门(一)衰减值测试福禄克网络公司尹岗我们通常用衰减量来判断光纤安装的质量,多数时候还要求同时测试光纤的长度,看看是否超过了某种应用的长度限制。另一种情况是,在传输丢包率达不到要求的情况下,还要求测试和评估光纤链路中的连接点、熔接点的质量。以便在高速光纤链路中帮助区分是设备(或者设备上的光模块的)问题,还是光纤链路本身的问题。上述两类测试分别对应地被称作“一级测试”和“二级测试”。一级测试(Tier1)的测试参数就是衰减量和长度;二级测试(Tier2)是在一级测试的基础上再增加 OTDR 曲线测试,主要目的就是显示光纤链路的结构和其中的各种引起质量问题的“质量事件”。先来看看什么叫“一级测试”。衰减测试最基本原理见图一:在光纤的一端是光源,另一端则接一个光功率计。光的功率单位是 dB。则(Po-Pi)就是被测光纤链路的衰减值。光源CP 光功率计Po 被测光纤 Pi图一衰减=P0-Pi实际测试的时候需要做一点调整,才能保证测试的可操作性,否则,会遇到许多“工程问题”而无法实施测试。首先,实际测试时一般都会使用“测试跳线”,测试结果就应该把这些测试跳线所引入的衰减扣除掉。图二为实际测试时的一个例子:先将光源和光功率计开机,预热 5 分钟,待光源稳定后将两根测试跳线用光纤耦合器短接,测出 P0值。'兆线插头光源-|光纤耦合器光功率计测试跳线测试跳线图二将两根测试跳线对接测得新定义的 P0值图三拆开耦合器,加入被测光纤测得 Pi然后打开耦合器,加入被测光纤,测出巧,则这根光纤链路的衰减量=(p°-pi)。为什么要一定要用“测试跳线”呢?这是因为按照图一的测试模式可以得到 Pi,技术上却难得到 P0。使用测试跳线的另一个重要原因就是,光源和光功率计的测试插座在经过一定次数的插拔后磨损程度会增加,精度和稳定性会迅速下降---严格地讲,每次插拔后的P0值都是有偏差的。另外,使用一定次数以后,需要更换费用较高的光源和光功率计的插座。而采用测试跳线的好处是:测试跳线的一端与光源或光功率计相连,另一端与被测光纤链路相连,在一整天或半天的测试工作中一般测试跳线不会从仪器上拔下来,这样被磨损的就只是测试跳线的一端。测试插头被磨损到一定程度后,就可以更换测试跳线,更换测试跳线的费用比更换仪器插座的费用要低得多(100:1 以上价格差距)。建议:标记测试跳线插入仪器的那一端,每次都使用此端,可减少漂移,保证精度。上面的测试方法有一点小小的不便...