CMI900荧光X射线镀层厚度测量仪操作规范

光 星 电 子编 号 : KS03QI0189-A管 理 办 法 生 效 日 期 : 2 0 0 9 年 0 4 月 2 1 日第 0 次 修 改第 1 页 ，共 6 页1.0 目的: 明确CMI900荧光X射线镀层厚度测量仪的基本使用方法.2.0 适用范围: 适用于本公司 PCB 镍/金厚度以及其它各类金属表面镀层厚度测试.3.0 定义：（无）4.0 职责： QM部：IQC针对光星所有来料的PCB等材料按每LOT进行测试，结果记录于来料检查成绩书。 仪校：负责机器的维护、保养工作并定期进行校验。5.0 管理规定:5.1、测试前准备5.1.1、连接CMI900仪器、电脑、打印机电源。5.1.2、准备各种标准片及样品。5.2、波谱校准5.2.1、进入测试软件（如图①）NO变更原因新发行变更内容－CMI900 荧光X射线镀层厚度测量仪操作规范编制审核1变更日期2009.04.21批准打开smartling FP输入密码点击确认图①光 星 电 子编 号 : KS03QI0189-A管 理 办 法 生 效 日 期 : 2 0 0 9 年 0 4 月 2 1 日第 0 次 修 改第 2 页 ，共 6 页5.2.2、机器升压（如图②）5.2.3、热机（如图③） 5.2.3.1 点击"计数"，再点击"重复"，输入次数"30～50"，设置重复测试次数为"30～50" 5.2.3.2 将标准校准样品“Ag”部分放入准直器镜头下，点击“聚集激光”进行聚焦，然后 点击绿色测试按钮“GO”进行测试。CMI900 荧光X射线镀层厚度测量仪操作规范灰色“GO”按钮变为绿色为OK升压OK后此处显示图②1234图③光 星 电 子编 号 : KS03QI0189-A管 理 办 法 生 效 日 期 : 2 0 0 9 年 0 4 月 2 1 日第 0 次 修 改第 3 页 ，共 6 页5.2.4、波谱校准(一）（如图④） 5.2.4.1 点击“波谱校准”，将标准校准样品“Ag-Cu”部分放入准直器镜头下，点击“聚集 激光”进行聚焦，然后点击绿色测试按钮“GO”进行测试。5.2.5、波谱校准(二）（如图⑤） 5.2.5.1 将标准校准样品“Ag”部分放入准直器镜头下，点击“聚集激光”进行聚焦，然后 点击绿色测试按钮“GO”进行测试。CMI900 荧光X射线镀层厚度测量仪操作规范12图④1图⑤光 星 电 子编 号 : KS03QI0189-A管 理 办 法 生 效 日 期 : 2 0 0 9 年 0 4 月 2 1 日第 0 次 修 改第 4 页 ，共 6 页5.2.6、波谱校准成功（如图⑥） 5.2.6.1 波谱校准成功后出现如图⑥的画面，此时点击确定，校准过程完毕。5.3、样品测量5.3.1、打开应用测试档案（如图⑦）...