光 星 电 子编 号 : KS03QI0189-A管 理 办 法 生 效 日 期 : 2 0 0 9 年 0 4 月 2 1 日第 0 次 修 改第 1 页 ,共 6 页1.0 目的: 明确CMI900荧光X射线镀层厚度测量仪的基本使用方法.2.0 适用范围: 适用于本公司 PCB 镍/金厚度以及其它各类金属表面镀层厚度测试.3.0 定义:(无)4.0 职责: QM部:IQC针对光星所有来料的PCB等材料按每LOT进行测试,结果记录于来料检查成绩书。 仪校:负责机器的维护、保养工作并定期进行校验。5.0 管理规定:5.1、测试前准备5.1.1、连接CMI900仪器、电脑、打印机电源。5.1.2、准备各种标准片及样品。5.2、波谱校准5.2.1、进入测试软件(如图①)NO变更原因新发行变更内容-CMI900 荧光X射线镀层厚度测量仪操作规范编制审核1变更日期2009.04.21批准打开smartling FP输入密码点击确认图①光 星 电 子编 号 : KS03QI0189-A管 理 办 法 生 效 日 期 : 2 0 0 9 年 0 4 月 2 1 日第 0 次 修 改第 2 页 ,共 6 页5.2.2、机器升压(如图②)5.2.3、热机(如图③) 5.2.3.1 点击"计数",再点击"重复",输入次数"30~50",设置重复测试次数为"30~50" 5.2.3.2 将标准校准样品“Ag”部分放入准直器镜头下,点击“聚集激光”进行聚焦,然后 点击绿色测试按钮“GO”进行测试。CMI900 荧光X射线镀层厚度测量仪操作规范灰色“GO”按钮变为绿色为OK升压OK后此处显示图②1234图③光 星 电 子编 号 : KS03QI0189-A管 理 办 法 生 效 日 期 : 2 0 0 9 年 0 4 月 2 1 日第 0 次 修 改第 3 页 ,共 6 页5.2.4、波谱校准(一)(如图④) 5.2.4.1 点击“波谱校准”,将标准校准样品“Ag-Cu”部分放入准直器镜头下,点击“聚集 激光”进行聚焦,然后点击绿色测试按钮“GO”进行测试。5.2.5、波谱校准(二)(如图⑤) 5.2.5.1 将标准校准样品“Ag”部分放入准直器镜头下,点击“聚集激光”进行聚焦,然后 点击绿色测试按钮“GO”进行测试。CMI900 荧光X射线镀层厚度测量仪操作规范12图④1图⑤光 星 电 子编 号 : KS03QI0189-A管 理 办 法 生 效 日 期 : 2 0 0 9 年 0 4 月 2 1 日第 0 次 修 改第 4 页 ,共 6 页5.2.6、波谱校准成功(如图⑥) 5.2.6.1 波谱校准成功后出现如图⑥的画面,此时点击确定,校准过程完毕。5.3、样品测量5.3.1、打开应用测试档案(如图⑦)...