IC测试原理和设备教程

第1 章 认识半导体和测试设备 更多.. 1947 年，第一只晶体管的诞生标志着半导体工业的开始，从那时起，半导体生产和制造技术变得越来越重要... 第1 节 晶圆、晶片和封装 第3 节 半导体技术 第5 节 测试系统的种类 第7 节 探针卡（ProbeCard） 第2 节 自动测试设备 第4 节 数字和模拟电路 第6 节 测试负载板（LoadBoard）... 第2 章 半导体测试基础 更多.. 半导体测试程序的目的是控制测试系统硬件以一定的方式保证被测器件达到或超越它的那些被具体定义在器件规格书里的设计指标... 第1 节 基础术语 第3 节 测试系统 第5 节 管脚电路 第2 节 正确的测试方法 第4 节 PMU 第6 节 测试开发基本规则 第3 章 基于 PMU 的开短路测试 更多.. Open-Short Test 也称为 Continu ity Test 或 Contact Test，用以确认在器件测试时所有的信号引脚都与测试系统相应的通道在电性能上完成了连接，并且没有信号引脚与其他信号引脚、电源或地发生短路... 第1 节 测试目的 第2 节 测试方法 第4 章 DC 参数测试 更多.. 测试程序流程中的各个测试项之间的关系对 DC 测试来说是重要的，很多DC 测试要求前提条件... 第1 节 基本术语 第3 节 VOL/IOL 第5 节 Static IDD 第7 节 IIL / IIH 第11 节 High Impedance Cu rren... 第2 节 VOH/IOH 第4 节 Gross IDD 第6 节 IDDQ & Dy namic IDD 第8 节 Resistiv e Inpu t & Ou tpu ... 第12 节 IOS test 第5 章 功能测试 更多.. 功能测试是验证DUT 是否能正确实现所设计的逻辑功能，为此，需生成测试向量或真值表以检测DUT 中的错误，真值表检测错误的能力可用故障覆盖率衡量，测试向量和测试时序组成功能测试的核心... 第1 节 基础术语 第3 节 输出数据 第5 节 Vector Data 第7 节 Gross Fu nctional Test an... 第9 节 标准功能测试 第2 节 测试周期及输入数据 第4 节 Ou tpu t Loading for AC Te... 第6 节 Fu nctional Specification... 第8 节 Fu nctionally Testing a D... 第6 章 AC 参数测试 更多.. 第1节 测试类型 第1节 晶圆、晶片和封装 1947 年，第一只晶体管的诞生标志着半导体工业的开始，从那时起，半导体生产和制造技术变得越来越重要。以前许多单个的晶体管现在可以互联加工成一种复 杂的集成的电路形式，这...