精品文档---下载后可任意编辑DCScan：一种低功耗的扫描测试结构的开题报告DCScan 是一种用于扫描测试的低功耗结构。在数字系统中，扫描测试是一种用于测试芯片的方法。传统的扫描测试结构需要使用大量的电路元件，这会导致额外的功耗和成本。本文旨在提出一种低功耗的扫描测试结构，这种结构利用了部分扫描的特性，从而在测试过程中可以大大减少功耗和成本。本文的主要贡献是提出了一种新的扫描测试结构，该结构可以大大降低功耗，同时具有良好的故障覆盖率和测试效果。该结构称为 DCScan，它利用了部分扫描的特性，以减少需要测试的元件数量。DCScan 结构由三部分组成:扫描引擎、部分扫描逻辑和扫描节点选择器。扫描引擎用于控制测试过程，部分扫描逻辑用于选择部分需要测试的扫描节点，而扫描节点选择器则用于确定实际测试的节点集合。为了评估 DCScan 结构的性能，本文设计了一个测试平台，并使用基准电路进行了测试。实验结果表明，DCScan 结构可以大大降低功耗，同时具有良好的故障覆盖率和测试效果。此外，该结构还可以与现有的测试技术结合使用，以提高测试效率和降低成本。总之，DCScan 是一种具有重要应用前景的低功耗扫描测试结构，可以在不降低测试效果的情况下减少电路功耗。在未来的讨论中，我们将进一步讨论 DCScan 的应用和改进。
