精品文档---下载后可任意编辑一种差、共模集成 EMI 滤波器及其平面化讨论的开题报告背景介绍：随着电子设备的日益普及和复杂化，电磁干扰(EMI)的问题变得越来越突出，给其正常的健康运行带来了威胁。EMI 问题包括两种类型：差模模式和共模模式，原因是这两种模式的频率和性质不同，所以需要不同的解决方案。传统的滤波器是针对单一模式的解决方案，但是，随着差模和共模问题的复杂度增加，新的 EMI 滤波器需要同时解决这两种情况。讨论目的：本讨论旨在开发一种新型的差、共模集成 EMI 滤波器，以减少对电子设备的干扰，提高其运行效率。此外，通过设计平面化的结构减小其尺寸，提高其适用性，使其能够用于更多的电子设备中。讨论方法：本讨论将采纳多种方法来实现其目标。首先，需要对差、共模 EMI 问题的性质进行深化了解，并确定其正确的建模方法。其次，通过理论讨论和仿真分析，确定设计的最佳方案，并初步测试其性能。最后，进行实验验证，以验证设计的 EMI 滤波器是否能够有效地减少对电子设备的干扰。预期结果：通过本讨论，估计能够开发出一种新型的差、共模集成 EMI 滤波器，并且通过平面化设计，其尺寸将得以减小，适用于更多的电子设备中。此外，通过实验验证，可以进一步证明其有效性，并能为解决 EMI 问题提供新的解决方案。讨论意义：本讨论旨在解决电子设备中 EMI 干扰问题，提高其运行效率和稳定性。通过开发出新型的差、共模集成 EMI 滤波器，可以有效地减少对电子设备的干扰，提高其性能和可靠性，从而推动电子设备行业的进展。同时，平面化设计的 EMI 滤波器具有更好的适用性，可以为电子设备的设计和制造提供更多的灵活性和选择。
