1 1、若某突变 PN 结的 P 型区的掺杂浓度为163A1
5 10 cmN,则室温下该区的平衡多子浓度 pp0 与平衡少子浓度 np0 分别为(316105
1cmNA)和(314105
1cmNA)
2、在 PN 结的空间电荷区中,P 区一侧带(负)电荷,N 区一侧带(正)电荷
内建电场的方向是从(N)区指向(P)区
[发生漂移运动,空穴向 P 区,电子向 N 区] 3、当采用耗尽近似时,N 型耗尽区中的泊松方程为(DSEuqdxd)
由此方程可以看出,掺杂浓度越高,则内建电场的斜率越(大)
4、PN 结的掺杂浓度越高,则势垒区的长度就越(小),内建电场的最大值就越(大),内建电势 Vbi就越(大),反向饱和电流 I0 就越(小)[P20],势垒电容 CT 就越( 大 ),雪崩击穿电压就越(小)
5、硅突变结内建电势 Vbi 可表为(2lniDAbinNNqKTv )P9,在室温下的典型值为(0
6、当对 PN 结外加正向电压时,其势垒区宽度会(减小),势垒区的势垒高度会(降低)
7、当对 PN 结外加反向电压时,其势垒区宽度会(增大),势垒区的势垒高度会(提高)
8 、 在 P 型 中 性 区 与 耗 尽 区 的 边 界 上 , 少 子 浓 度 np 与 外 加 电 压 V 之 间 的 关 系 可 表 示 为()exp()(0KTqvpppnxn)P18
若 P 型区的掺杂浓度173A1
5 10 cmN,外加电压 V = 0
52V,则 P 型区与耗尽区边界上的少子浓度 np为(3251035
7cm)
9、当对 PN 结外加正向电压时,中性区与耗尽区边界上的少子浓度比该处的平衡少子浓度( 大);当对PN 结外加反向电压时,中性区与耗尽区边界上的少子浓度比该处的平衡少子浓度( 小)
10、PN 结的