《微电子工艺原理和技术》复习题 一、填空题 1
半导体集成电路主要的衬底材料有单元晶体材料Si 、Ge 和化合物晶体材料GaAs 、InP;硅COMS 集成电路衬底单晶的晶向常选(100) ;TTL 集成电路衬底材料的晶向常选(111);常用的硅集成电路介电薄膜是 SiO2、Si3N4;常用的 IC 互连线金属材料是Al、Cu
画出 P 型(100)、(111)和N 型(100)、(111)单晶抛光硅片的外形判别示意图
硅微电子器件常用硅片的三个晶向是:(100)、 (111)、 (110)画出它们的晶向图
热扩散和离子注入是半导体器件的最常用掺杂方法
P、As是 Si 常用的施主杂质;B是 Si 常用的受主杂质;Zn是 GaAs 常用的 P 型掺杂剂;Si是 GaAs 常用的 N 型掺杂剂
摩尔定律的主要内容是:晶体管特征尺寸每三年减小到约 70%,30 年内有效,也可表示为,集成电路的特征尺寸每三年缩小 30%;集成度每三年翻二翻;集成电路工艺每三年升级一代;逻辑电路的速度每三年提高 30%
集成电路用单晶硅的主要制备方法是 提拉法和区熔法
半导体材料的缺陷主要有 点缺陷 、 位错 、 层错 、 孪晶
半导体晶体的晶胞具有立方对称性, Si、Ge 、GaAs 晶体为金刚石结构
用密勒指数 h,k,l 表示晶胞晶面的方向
电子 和 空穴 是半导体的主要载流子,N 型半导体中电子浓度高于空穴浓度,而 P 型半导体中空穴浓度高于电子浓度, 本证半导体中的两种载流子浓度相等
半导体单晶材料中的电子能级由于价电子的共有化分裂成能带,价带是0