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电子元器件检验规范标准书

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电子元器件检验规范标准书(总 8 页)-本页仅作为预览文档封面,使用时请删除本页-电子元器件检验规范标准书2修订日期修订单号修订内容摘要-页次版次修订审核批准2011/03/30/系统文件新制定4A/0///批准:审核:编制:部分电子元器件检验规范标准书3IC 类检验规范(包括 BGA)1.目的作为 IQC 人员检验 IC 类物料之依据。2.适用范围适用于本公司所有 IC(包括 BGA)之检验。3.抽样计划依 MIL-STD-105E,LEVELII 正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考《抽样计划》。4.允收水准(AQL)严重缺点(CR):0;王要缺点(MA):;次要缺点(Ml):.5.参考文件无检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa. 根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。b. 包装必须采用防静电包装,否则不可接受。目检数量检验MAa. 实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不可接受;b.实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检点数外观检验MAa. Marking 错或模糊不清难以辨认不可接受;b. 来料品名错,或不同规格的混装,均不可接受;c. 本体变形,或有肉眼可见的龟裂等不可接受;d. 元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔,其面积不超过,且未露出基质,可接受;否则不可接受;e. Pin 氧化生锈,或上锡不良,均不可接受;f. 元件脚弯曲,偏位,缺损或少脚,均不可接受;目检或 10 倍以上的放大镜检验时,必须佩带静电带。备注:凡用于真空完全密闭方式包装的 IC,由于管理与防护的特殊要求不能现场打开封装的,IQC 仅进行包装检验,并加盖免检印章;该 IC 在 SMT 上拉前 IQC 须进行拆封检验。拆封后首先确认包装袋内的湿度显示卡 20%RH 对应的位置有没有变成粉红色,若已变为粉红色则使用前必须按供应商的要求进行烘烤。(三)贴片元件检验规范(电容,电阻,电感…)1.目的便于 IQC 人员检验贴片元件类物料。2.适用范围适用于本公司所有贴片元件(电容电阻,电感…)之检验。3.抽样计划依 MIL-STD-105E,LEVELII 正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考《抽样计划》。4.允收水准(AQL)严重缺点(CR):0;王要缺点(MA):;次要缺点(Ml):.45.参考文件《LCR 数字电桥操作指引》《数字万用表操作指引》检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa. 根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。b. 包装必须采用防静电包装,...

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