数字 I/O 模块在数字电路板自动测试设备中的应用杜舒明 1 ,钱 芳 1 ,章琳琳 1 ,申加胜 2(1、南京 14 所,江苏 南京 210013 ; 2、北京航天测控公司, 北京 100830) 摘要:本文介绍了一种基于 VXI 总线的数字 I/O 模块(型号为 DIOM-64)在数字电路板 ATE 中的应用,内容包括模块的工作原理和测试设备的组成
该数字 I/O 模块已在某雷达的数字电路板 ATE 和数字/模拟混合电路板 ATE 中得到应用,实际验证表明模块设计合理,能满足指标要求,工作稳定可靠
关键词: 自动测试设备; 故障检测; 故障隔离1 概述数字电路板自动测试设备(简称数字电路 ATE)用于雷达系统中各种数字电路板的故障检测和故障隔离
它能自动推断电路板是否有故障
当电路板有故障时,它能自动地把故障隔离到元器件级
它既可以用于雷达维修基地的电路板维修,又可以用于雷达生产线的电路板调试
早期的数字电路 ATE 都采纳专用的硬件结构
近年来,数字 ATE 的进展趋势是通用化、模块化、易于扩展
于是,符合工业标准的数字电路 ATE 系统相继出现,例如基于 VXI 总线的 ATE 和基于 PXI 总线的 ATE
数字电路 ATE 的新技术以美国泰瑞达(Teradyne)公司的数字功能测试产品为代表
美国陆海空三军的多数数字电路测试系统都采纳泰瑞达的数字测试技术,例如海军的 CASS 测试系统、陆军的 IFTE 系统、爱国者导弹测试用的 GFTS 系统、空军的 CATS 系统、B-2 隐形轰炸机测试系统
泰瑞达提供的基于 VXI 总线的数字功能测试产品是 1998 年推出的 M9 系列产品
它包含3 种基于 VXI 总线的数字模块:M9 中央资源板(CRB)、M910 通道卡和 M920 通道卡
中央资源板的主要功能是定时产生和引导探头
M910 和 M920 功能相