芯片制作工艺流程工艺流程1)表面清洗晶圆表面附着一层大约 2um 的 A12O3 和甘油混合液保护之，在制作前必须进行化学刻蚀和表面清洗。2) 初次氧化有热氧化法生成 SiO2 缓冲层，用来减小后续中 Si3N4 对晶圆的应力氧化技术干法氧化 Si(固)+ O2 a SiO2(固)湿法氧化 Si(固)+2H2O a SiO2(固)+ 2H2干法氧化通常用来形成，栅极二氧化硅膜，规定薄，界面能级和固定电荷密度低的薄膜。干法氧化成膜速度慢于湿法。湿法氧化通常用来形成作为器件隔离用的比较厚的二氧化硅膜。当 SiO2 膜较薄时，膜厚与时间成正比。SiO2 膜变厚时，膜厚与时间的平方根成正比。因而，要形成较厚的 SiO2 膜，需要较长的氧化时间。SiO2 膜形成的速度取决于经扩散穿过 SiO2 膜到达硅表面的 O2 及 OH 基等氧化剂的数量的多少。湿法氧化时，因在于 OH 基在 SiO2 膜中的扩散系数比 O2 的大。氧化反映，Si 表面对深层移动，距离为 SiO2 膜厚的 0.44 倍。因此，不同厚度的 SiO2 膜，去除后的 Si 表面的深度也不同。SiO2 膜为透明，通过光干涉来估量膜的厚度。这种干涉色的周期约为2nm,假如预告知道是几次干涉，就能对的估量。对其他的透明薄膜，如知道其折射率，也可用公式计算出(d SiO2) / (d ox) = (n ox) / (n SiO2)。SiO2 膜很薄时，看不到干涉色，但可运用 Si 的疏水性和 SiO2 的亲水性来推断 SiO2 膜是否存在。也可用干涉膜计或椭圆仪等测出。SiO2 和 Si 界面能级密度和固定电荷密度可由 MOS 二极管的电容特性求得。(1)面的 Si的界面能级密度最低，约为 10E+10 -- 10E+11/cm2 .e V -1 数量级。(1)面时，氧化膜中固定电荷较多，固定电荷密度的大小成为左右阈值的重要因素。3) CVD(Chemica1 Vapor deposition)法沉积一层 Si3N4(Hot CVD 或 LPCVD)。1常压 CVD (Normal Pressure CVD)NPCVD 为最简朴的 CVD 法，使用于各种领域中。其一般装置是由(1)输送反映气体至反映炉的载气体精密装置；(2)使反映气体原料气化的反映气体气化室;⑶ 反映炉；(4)反映后的气体回收装置等所构成。其中中心部分为反映炉，炉的形式可分为四个种类，这些装置中重点为如何将反映气体均匀送入，故需在反映气体的流动与基板位置上专心改善。当为水平常，则基板倾斜；当为纵型时，着反映气体由中心吹出，且使基板夹具回转。而汽缸型亦可同时收容多数基板且使夹具旋转。为扩散炉型时，在基板的上游加有混和气体使成乱...
