第1章半导体测试基础第1节 基础术语描述半导体测试得专业术语很多，这里只例举部分基础得： 1． DUT需要被实施测试得半导体器件通常叫做 DU Ｔ（D ｅｖ i ｃ e Under Te ｓ t,我们常简称“被测器件”)，或者叫 UUT(Unit Unde ｒ T ｅ st）。首先我们来瞧瞧关于器件引脚得常识,数字电路期间得引脚分为“信号”、“电源”与“地”三部分。信号脚，包括输入、输出、三态与双向四类，输入:在外部信号与器件内部逻辑之间起缓冲作用得信号输入通道;输入管脚感应其上得电压并将它转化为内部逻辑识别得“0"与“1”电平.输出:在芯片内部逻辑与外部环境之间起缓冲作用得信号输出通道;输出管脚提供正确得逻辑“０”或“1"得电压,并提供合适得驱动能力（电流）。三态:输出得一类,它有关闭得能力（达到高电阻值得状态）.双向：拥有输入、输出功能并能达到高阻态得管脚。 电源脚，“电源”与“地”统称为电源脚，因为它们组成供电回路，有着与信号引脚不同得电路结构。 VCC：T Ｔ L 器件得供电输入引脚. VDD:CMOS 器件得供电输入引脚。 VSS:为 VCC 或 V Ｄ D 提供电流回路得引脚。Ｇ ND:地,连接到测试系统得参考电位节点或 VSS，为信号引脚或其她电路节点提供参考 0 电位；对于单一供电得器件，我们称 V Ｓ S为 GN Ｄ.２． 测试程序半导体测试程序得目得就是控制测试系统硬件以一定得方式保证被测器件达到或超越它得那些被具体定义在器件规格书里得设计指标。测试程序通常分为几个部分，如Ｄ C 测试、功能测试、A Ｃ测试等。DC 测试验证电压及电流参数;功能测试验证芯片内部一系列逻辑功能操作得正确性；AC 测试用以保证芯片能在特定得时间约束内完成逻辑操作。程序控制测试系统得硬件进行测试，对每个测试项给出 pa ｓ s 或 fail 得结果。P ａ s ｓ指器件达到或者超越了其设计规格；F ａ il 则相反,器件没有达到设计要求，不能用于最终应用。测试程序还会将器件根据它们在测试中表现出得性能进行相应得分类,这个过程叫做“B ｉｎ nin ｇ”，也称为“分Ｂ in”、 举个例子,一个微处理器,假如可以在 15 ０ MHz 下正确执行指令,会被归为最好得一类，称之为“Bin 1";而它得某个兄弟，只能在 100MH ｚ下做同样得事情，性能比不上它，但就是也不就是一无就是处应该扔掉，还有可以应用得领域,则也许会被归为“B ｉ n ２",卖给只要求 100MHz 得客户。程序还要有控制外围测试设备比如 H ...
