六氟化硫封闭式组合电器故障检测手段及其可行性分析以 SF6作绝缘介质的气体绝缘金属封闭开关设备（简称 GIS），是将断路器、隔离开关、接地开关、互感器、避雷器、母线、连接管和过渡元件（如电缆头、空气套管和油套管）全封闭在一个接地的金属外壳内，壳内充以 SF6气体作为绝缘和灭弧介质。由于 SF6气体具有不燃烧和优异的绝缘性能及灭弧性能,逐步被人们作为新型介质应用于高压电器。今日在高压、超高压及特高压领域,SF6气体几乎成为断路器和 GIS 的唯一绝缘和灭弧介质。在中压领域,SF6同真空开关已成为并驾齐驱的两大支柱。与传统敞开式配电装置相比主要具有占地面积小、重量轻、元件全部封闭不受环境干扰、运行可靠性高、检修周期长、维护工作量少、安装期限短、运行费用低、损耗少、噪音低等优点，我厂 110kV 及以上电压等级的开关均采纳SF6气体作为绝缘介质，特别是除邹平中心变电站外其余各变电站均为 GIS。虽然 GIS 有着诸多优点，但是也存在着一些缺点，例如所有设备完全封闭，不能发现故障的早期症状；设备之间距离紧凑，易于互相影响，导致故障扩大；GIS 发生故障后，寻找故障点及检修比较困难；检修时间也长，设备造价高等。在 GIS 的加工、运输及现场装配过程中不可避开地会存在绝缘缺陷而影响其可靠性。这类缺陷包括：1、载流导体表面缺陷：如毛刺，尖角等引起导体表面电场强度不均匀，这种缺陷通常在制造或安装时造成的，在稳定的工频电压下不易引起击穿，但在操作或冲击电压下很可能引起击穿。2、绝缘子表面缺陷：绝缘件的缺陷是生产 GIS 内部的绝缘件或组装过程中，残存在内部的气孔、龟裂、表面受损或污染，如盆式绝缘子内部或与导体交界处的气隙等。3、GIS 筒内在制造和安装过程中存在的自由导电微粒。自由微粒是 GIS 内部发生率高的绝缘缺陷，因生产、安装过程中在 GIS 内部残存的自由导电微粒，如残留金属屑或金属颗粒，由于强烈的电场影响移动而发生的放电。 4、附近存在悬浮电位体或导体间连接点接触不好等。上述缺陷在电场作用下产生局部放电，最终可能导致绝缘损坏。因此对GIS 的绝缘诊断技术愈来愈被制造厂家和用户所重视，其中最主要的是进行局部放电检测。国家标准中规定 GIS 在现场安装交接时、运行中发现异常或缺陷进行必要的分解检修及大修时，应进行下列电气试验项目：元件及连锁试验；主回路电阻测量；密封性试验；SF6气体湿度测量；主回路的沟通耐压试验。这几项试验中除密封性试验（我...
