数字电路测试系统美国Credence公司ElectraMSR100MHz台湾德律TR-6010逻辑测试系统日本VTT公司V777大规模集成电路逻辑测试系统安捷伦83000数字电路测试系统混合信号电路测试系统美国Credence公司ElectraMSR100MHzTeradyneIntegraJ750TestSystemLTXSynchro/FusionHTSZM3650模拟电路测试系统台湾德律TR-6800电源管理器件测试机TeradyneA585/A575LTXTS80/88测试机接口板SOC器件测试系统安捷伦93000SOC测试系统TeradyneJ971TeradyneJ973LCD器件测试系统存储器测试系统SytestQ2-52RFIC器件测试系统LTXFusionRFTeradyneCatalystRFAgilentHp93000RF测试座及夹具通用测试座特殊夹具ElectraMSR100MHz客户定制型V777测试通道扩展板--CECC设计制作V777测试通用接口板--CECC设计制作IMS100用户定制型接口板--CECC设计制作美国Credence公司ElectraMSR100MHz美国Credence公司ElectraMSR100MHz概述·100MHz量测速率的功能验证性设备，具有FuntionalPattern产生、仿真、测试，DC参数量测等功能。·非常适合IC设计公司进行样片芯片验证性测试及分析特性:·4M的向量存储深度/通道完整的功能Pattwen和DC参数测试系统·UNIX系统的操作软件，可视化友好界面·ShmooPlot工具,用于器件特性分析·可连接LABVIEW辅助性工具·直接连接到工作站服务器系统规格·时钟频率：100Mhz·数据速率：200Mbits/Sec·1.5ns的上升和下降时间（ECL、CMOS电路）·每个管脚的电压和负载可编程·系统偏差≦±1ns(ATS1)·每个管脚可选用直流精密测量单元·Window、Edge和Dual-Edge采样·128个I/O管脚(ATS1)·APMU：直流精密测量单元·2.1Gb扩展图形存储器·每个管脚可编程边缘分辨率50ps·7bitsperChannelforSimultaneousReal-time·CompareandDataAcquisition·时钟线形稳定，偏差≦±100ps·PCI-GPIB和PCI-VXI接口板·SunUltra10工作站系统软体功能·TestEnv：基于Xwindows的测试软件环境，包括·IMSScreens、IMS-Shmoo、TestLITE和·MATSS测试服务器·IMS-Link：提供脱机向量转换软件编辑能力和通用仿真器支持·TestVIEW(V7.2e)：图形测试编程语言系统模组Module·ControlModulex1·Timingmodulex1·Datamodulex8·AnalyticalDCPMUmodulex1SocketCard种类及数量·DIPAutoSocketCard40*1·ATS1/MSTS1AnologInterfaceBoard*1·ForceAutocalInterfaceBoard*1·OpenCustomDUTInterfaceBoard*13·ATS1/MSTSFixtureBoard*1·ForceAutocal*1·CompareAutocal*1·IMSAdapterBoard*1台湾德律TR-6010逻辑器件测试机概述：·专为10MHz逻辑IC测试机,具有FunctionPattern测试,Dc参数量测等功能硬件结构：资源配置：·测试控制器：奔腾III以上PC·系统软件：MS-DOS·电源要求：（1）单相交流，AC110V10A/50-60Hz（2）单相交流，AC220V6A/50-60Hz性能参数：·测试频率：10MHz·周期速率：100nS-1.31mS·周期分辨率：20nS·测试通道：最大128个·多组测试：2/4组并行测试·定时器：4Pins/TG·定时器分辨率：10nS·闸门模式：边沿式·测试向量深度：2M·驱动器：VIH：+-8V分辨率：5mV·VIL：+-8V分辨率：5mV·比较器：VOH：+-8V分辨率：5mV·VOL：+-8V分辨率：5mVPMU：1组/板卡，最大8组施加电压/测量电流范围：级别电压精确度分辨率010V+%+-5mV2.5mV110V+%+-5mV2.5mV210V+%+-5mV2.5mV310V+%+-5mV2.5mV施加电流/测量电压范围：HVPMU：2组/板卡，最大16组施加电压/测量电流范围：施加电流/测量电压范围：特性：·2M的向量存储器深度·可4组并行测试·完整的功能Pattwen和DC参数测试·驱动电压：+-8V，比较电压：6V·具有ShmooPlot工具,用于器件特性分析·测试程序调试工具·完善的测试诊断报告和柱状图·TTL和GPIB接口,可直接连接至prober和handler·紧凑小型，易安装日本VTT公司V777大规模集成电路逻辑测试系统（一）概述·10MHz的测试频率，128个测试通道，4M字节向量深度的大规模LSI测试系统系统尺寸·主框架：580(W),750(D),1200(H)或1850(H)毫米·测试头：580(W),340(D),250(H)毫米·电缆长度：4米测试器控制器·处理器AMD-K6-500·操作系统MS/DOSV·内存32MB·硬盘4.0GB·软盘3.5英寸1.44MB接口板·标准接口板针对探针机和机械手·GPIB接口...
