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集成电路测试插座产品说明VIP免费

集成电路测试插座产品说明_第1页
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第1页共2页编号:时间:2021年x月x日书山有路勤为径,学海无涯苦作舟页码:第1页共2页集成电路测试插座产品说明该产品用于航空航天、军工、科研单位以及集成电路生产企业,可配进口老化台、老化板做器件及高、低温测试、老化筛选作连接之用,间距为2.54mm,8J-20J两侧跨度为7.62mm,24J-64J两侧跨度为15.24mm:产品型号及规格;LJZ型集成电路测试插座LJZ型集成电路老化测试插座;LJZ-14、16、18、24、28、40带板双列集成电路老化测试插座;带板LJZ-14、16、18、24主要技术性能及使用条件环境温度;-55℃~+155℃相对湿度;40℃96%大气压力;30mmHg振动;f=10-50Hz冲击力;30kg工作电压;DC500V工作电流;1.5A接触电阻;≤0.03欧单脚插入力;≤0.2Kg弹片金层厚度;2umAu:lu(镍金)带板集成电路测试插座LJZ型集成电路插座结构示意图产品型号及安装尺寸序号型号名称L1L2L3L4间距引线电镀第2页共2页第1页共2页编号:时间:2021年x月x日书山有路勤为径,学海无涯苦作舟页码:第2页共2页1LJZ-14集成电路老化测试插座211517272.54镍、金2LJZ-16集成电路老化测试插座23.51820292.54镍、金3LJZ-18集成电路老化测试插座262022322.54镍、金4LJZ-24集成电路老化测试插座342830-2.54镍、金5LJZ-28集成电路老化测试插座393335-2.54镍、金6LJZ-40集成电路老化测试插座544850-2.54镍、金

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