第1页共8页第2页共8页用磁性方法测量涂层厚度的标准试验方法：磁性金属上的非磁性涂层(等同采用ASTMB499-09(R2014))(中文翻译版)编制：日期：审核：日期：批准：日期：修订历史修订序号对应的条号修订内容修改人批准人日期第3页共8页精Him駅JINGCHUANMATERIALTESTING1.目的Purpose本标准试验方法涵盖了使用磁性仪器对黑色金属或其他磁性基底金属上的非磁性涂层厚度进行无损测量。2.范围Scope本测量方法适用于含有非磁性涂层的黑色金属或其他磁性基底金属。还适用于规范验收试验和SPC/SQC应用。磷含量大于8%的自催化沉积镍磷合金无足够磁性，只要在任何热处理之前进行测量，就可通过本试验方法进行测量。这些仪器无法区分各层的厚度，只能测量探针下到基底金属的所有层的累积厚度。本试验方法不应用于测定钢上电沉积镍镀层的厚度。3.职责Responsibility程序执行：实验室授权制样人员程序监督：实验室技术负责人及相关责任人4.原理Principle4.1磁力拉拔仪采用吸引原理和恒定磁场。这些机械仪器测量将永磁体从涂层磁性金属基底上拉出所需的力。对涂层下面的基底的吸引力由弹簧或线圈抵消。对弹簧/线圈施加张力，直到克服对磁性基底的磁引力。仪器必须直接放置在涂层表面上才能进行测量。将永磁体固定在磁性底座上的力与磁体和磁性底座之间的涂层厚度成反比。例如，应用于铁基片的薄涂层需要比厚涂层更大的弹簧张力才能将磁铁拉出，因为磁铁更接近具有较薄涂层的铁基片。这种逆关系反映在非线性仪器刻度上。第4页共8页Ill|h購iiinn料画JiNGCHUANMATERIALTESTfhlG第5页共8页Ill|h購iiinn料画JiNGCHUANMATERIALTESTfhlG6.12压力—仪表读数对探头施加在试样上的压力敏感。探头的应用不应使涂层变形。6.13探头方向—磁力拉脱仪可能对磁铁相对于地球重力场的定向敏感。因此，在水平或倒置位置操作仪器可能需要校正系数，或者可能不可能。7.校准和标准化CalibrationandStandardization7.1涂层厚度仪器的校准由设备制造商、授权代理或授权的、经过培训的校准实验室在受控环境下使用记录的过程进行。可签发显示国家计量机构可追溯性的校准证书。没有重新校准的标准时间间隔，也不是绝对需要的时间间隔，但可以根据经验和工作环境建立校准间隔。一年校准间隔是许多仪器制造商建议的典型频率。7.2使用前，应按照制造商的说明，采用合适的厚度标准，验证每台仪器的校准精度，如有必要，应纠正发现的任何缺陷。7.3在使用过程中，应经常验证校准精度，至少每天一次。应注意第8节中列出的因素和第9节中描述的程序。7.4已知厚度的涂层厚度标准可用作垫片或箔或涂层试样。7.4.1箔材：注：在以下段落中，“箔”一词的使用将意味着非磁性金属或非金属箔或垫片。7.4.1.1由于难以确保充分接触，通常不建议使用箔材来校准、验证准确度和调整磁性拉脱仪，但在某些情况下，只要采取必要的预防措施，箔材是适用的。它们通常可以与其他类型的仪器一起使用。7.4.1.2箔材有利于弯曲表面，比涂层标准更容易获得。为了防止测量误差，有必要确保箔材和基板之间建立紧密的接触。应避免弹性箔，以防止压痕误差。厚度小于15pm(0.6mil)时，只能使用有色金属箔。箔容易磨损和压痕，因此应经常更换。不得使用磨损的箔。7.4.2涂层标准-这些校准标准包括已知的、均匀厚度的非导电涂层，永久粘结到基材上。7.4.3所用标准的涂层厚度应包含用户最高和最低的涂层厚度测量要求。适用于许多试验方法应用的标准可以在第6页共8页Ill|h購iiinn料画JiNGCHUANMATERIALTESTfhlG市场上买到，并且可以使用，前提是认证值可追溯到国家计量机构。7.5在某些情况下，应通过将探头旋转90°来检查仪器的校准（见8.8和8.9）。7.6如果未超过8.3中规定的临界厚度，则试验和校准调整的基底金属厚度应相同。通常可以用足够厚度的类似材料来支撑标准或试样的基底金属，使读数独立于基底金属厚度。7.7如果待测涂层的曲率妨碍在平坦表面上进行校准调整，则涂层标准或放置箔材的基板的曲率应相同。8.程序Procedure8.1按照制造商的说明操作每个仪器，适当注意第6节中列出的因素。8.2每次仪表投入使用时，应在试验现场和使用过程中的频繁间隔验证仪表的准确性...
