11三、塞规式测量系统简介DIATEST塞规式测量系统特有的导向体设计,保证了测量结果的可靠性,解决了孔径测量的对中难题,最大限度地减少了人为因素对测量结果的影响,可方便、快速、准确得出测量结果测头为非标定制,按图纸及使用要求加工制作
技术参数公称直径(mm)两点量程(mm)三点量程(mm)盲孔量程(mm)Φ2
15Φ100
15Φ150
2--根据尺寸不同,量程可加至0
8mm加大测量范围和特殊形式会让测量精度降低
订货示例:测头的订货尺寸(名义尺寸=孔的最小尺寸)例如:Φ35D7=Φ35+0
测头名义尺寸=35
Φ35H4=Φ35+0/+0
测头名义尺寸=35
结构图精度重复性:两点式≤0
001mm,三点式≤0
线性:两点式=1%,三点式=3%,盲孔式=2%
特性测量方法:比较法测量,环规为校准件测头:内置两瓣式测量结构,带镀硬铬导向圆柱,实现快速测量,旋转可查看圆度,上下查看锥度,无需寻找最小值
测点:标准测点为硬质合金,可根据不同使用环境及寿命要求更换材质
测力:恒定弹簧测力,测量结果不受人为因素影响
测针:内置硬质合金测针带有特殊锥度,将径向变化1:1传递至显示装置中
手柄:多种手柄选择,具有隔热的特点,可减少温度对测量值的影响
环规:按德国环规制作标准DIN2250-C附件:转角,深度延长杆,旋转,浮动,深度挡块等
显示:显示装置连接孔径为Φ8h6,适合连接数显装置进一步处理数据
:::liveisllivelivelivelive精度重复性:两点式≤0
001mm,复性:两点式≤0
001mlive量值的影响
环规:按德国环规制作标准DI附件