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本文系中北大学物理系半导体物理学基础课程李惠生老师布置的课后习题
第一章1.试定性说明Ge、Si的禁带宽度具有负温度系数的原因
解:电子的共有化运动导致孤立原子的能级形成能带,即允带和禁带
温度升高则电子的共有化运动加剧,导致允带进一步分裂、变宽;允带变宽,则导致允带与允带之间的禁带相对变窄
反之,温度降低,将导致禁带变宽
因此,Ge、Si的禁带宽度具有负温度系数
2.试指出空穴的主要特征
解:空穴是未被电子占据的空量子态,被用来描述半满带中的大量电子的集体运动状态,是准粒子
主要特征如下:A、荷正电:;B、空穴浓度表示为(电子浓度表示为);C、;D、
3.简述Ge、Si和GaAS的能带结构的主要特征
解:(1)Ge、Si:a)Eg(Si:0K)=1
21eV;Eg(Ge:0K)=1
170eV;b)间接能隙结构c)禁带宽度Eg随温度增加而减小;(2)GaAs:a)Eg(300K)=1
428eV,Eg(0K)=1
522eV;b)直接能隙结构;c)Eg负温度系数特性:dEg/dT=-3
95×10-4eV/K;4.试述有效质量的意义解:有效质量概括了半导体的内部势场的作用,使得在解决半导体的电子自外力作用下的运动规律时,可以不涉及到半导体内部势场的作用,特别是可以直接由实验测定,因而可以方便解决电子的运动规律
5.设晶格常数为的一维晶格,导带极小值附近能量和价带极大值附近能量分别为:,为电子惯性质量,
试求:(1)禁带宽度;(2)导带底电子有效质量;(3)价带顶电子有效质量;(4)价带顶电子跃迁到导带底时准动量的变化
解:(1)导带:由得:又因为所以:在处,取最小值价带:得:=0又因为所以:处,取最大值因此:-1–错误很多,仅供参考声明:部分答案来自互联网,本人只负责编辑
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