显徼、测量、微细加工技木与设备Microscope,Measurement,Microfabrication&Equipment碱性抛光液对硬盘基板抛光中表面状况的影响唐文栋,刘玉岭,宁培桓,田军(河北工业大学微电子所,天津300130)摘要:阐述了化学机械抛光(CMP)技术在硬盘基板加工中发挥的重要作用,介绍了SiO碱性抛光液的化学机械抛光机理以及抛光液在化学机械抛光中发挥的重要作用
使用河北工业大学研制的SiO:碱性抛光液对硬盘基板表面抛光,分析研究了抛光液中的浓度、表面活性剂以及去除量对抛光后硬盘基板表面状况的影响机理
总结了硬盘基板表面粗糙度随抛光液中的浓度、表面活性剂及去除量的变化规律以及抛光液的这些参数如何影响到硬盘基板的表面状况
在总结和分析这些规律的基础上,对抛光结果进行了检测
经检测得出,改善抛光后的硬盘基板表面质量(Ra=0.3926nm,R⋯=0.4953nm)取得了显著效果
关键词:硬盘基板;化学机械抛光;抛光液;粗糙度;波纹度;平整度中图分类号:TN305.2;TN304.21文献标识码:A文章编号:1671—4776(2008)10—0611—04EffectofAlkalineSlurryonStateoftheHardDtheSurfaceiskTangWendong,LiuYuling,NingPeihuan,TianJun(InstituteofMicroelectronics,HebeiUniversityofTechnology,Tianjin300130
China)Abstract:Chemicalmechanicalpolishing(CMP)technologywhichplaysanimportantroleintheharddisksubstrateprocessingwasdiscribed.TheCMPmechanis